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N4155A ハイスピード・ロス測定ソルーション

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概要

Keysightの N4155A 高速損失測定 ソリューションは、研究開発および製造の両環境において、波長依存光学デバイスの高速かつ高確度な特性評価を提供します。

テスト・コストの最小化、スループットの最大化
Keysightの革新的な N4155A 高速損失測定 ソリューションは、特にファイバ・ブラッグ・グレーティング (FBG) 、薄膜フィルタ (TFF) 、およびFBG型とTFF型の光コンポーネントの波長依存性デバイスを特性評価する目的でデザインされています。N4155Aは、スペクトル転送機能の迅速かつ高品質な測定を提供すると共に、次の機能を提供します:

  • TFFのスペクトル特性評価
  • アライメントおよび調整プロセスの最適化
  • FBG書き込みおよびファイバ・テーパリングのプロセス・モニタ
  • アレイ導波路回折格子 (AWG) チップのチャネル別光性能

Keysight N4155A ソリューションは、比類の無いメリットでお客様のテストのニーズに即応します:

スピード 高速アライメントおよびフィルタ・テストのためにスペクトル転送機能を連続的かつ迅速に更新する、リアルタイム掃引。

確度 新型波長可変レーザー光源と組み合わせることにより、N4155Aは、絶対波長確度 + / - 1 pm という高性能を達成することができます。

将来の保証 N4155Aは、Keysight社の業界トップの光測定システムをベースにしているスケーラブルなソリューションで、今日の製造に必要な要件を満たしているだけでなく、明日の要件にもフレキシブルに対応します。

フレキシビリティ N4155A の各モジュールは、すべてKeysight光測定システムに対応したモジュールであり、貴社のテスト要件に必要な時に即応できるよう再構成が可能です。

クイック設定および使いやすさ Keysightのフォトニック・ファンデーション・ライブラリ (PFL) では、特定のテスト、タスク、および解析の実施を迅速かつ容易なものにする、すぐに役立つ機能がすでに用意されています。