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N4156A 挿入損失および偏波依存損失測定のための高性能ソリューション

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概要

N4156A 高性能測定ソリューションは、高速かつ高確度の挿入損失 (IL) および偏波依存損失 (PDL) 測定を提供します。このソリューションでは、研究開発および製造環境の両方で、波長依存光学デバイスの優れた特性評価を得られ、測定器の設定が容易です。

テスト・コストの最小化、スループットの最大化
この設定が容易なシステムは、マルチプレクサー / デマルチプレクサまたはフィルタのようなクリティカルな DWDM 受動コンポーネントの市場に新規事業参入されたお客様のためにデザインされています。 開発および最終テストにおいて、そのようなデバイスを持つメーカーは、スループットおよび歩留まりを最大化し、コストを最小化するために、高性能測定ソリューションを必要とします。

他の追従を許さないこの製品のメリットは:

より速い市場投入による低いテスト・コスト

N4156A は、フォトニック解析ツール・ボックス、IL および PDL 測定に即用できるユーザ・インターフェース付きの実行可能な測定アプリケーション、およびスペクトルの転送機能の解析を含みます。
N4156A の一部分でもあるフォトニック・ファンデーション・ライブラリ (PFL) は、光コンポーネントに最も広く使用されている測定および解析機能の包括的なコレクションです。 このコレクションは、徹底的なデータ解析および処理能力を持つ、最新式の測定および測定器制御機能を含みます。 PFLは、カスタマイズされた測定タスク、および量産可能なテスト・ソリューションの実施を手早く容易なものとします。

優れたシステム性能による高い歩留まり

例えば、波長確度が ±1 pm、および波長の分解能が 0.5 pmの場合、N4156A は、超狭帯域コンポーネント (25 GHz以下) を解析するための適正な性能を発揮します。
このシステムが高性能波長可変レーザー光源および低PDLパワー・センサと共に使用されると、 IL および PDL において最も高確度測定が実現されます。
Keysightのハードウェア製品に最適化されたPFLは、 長年培った測定ノウハウによって、より高い確度を発揮します PFLは、パワー・メーター平均時間の自動設定、PDL 測定の最新Mueller法、および掃引波長システムにおける遅延および歪みの影響の修正を含みます。

フレキシビリティによる投資保護

Keysightの市場のトップを走る光測定システムに基づいた N4156A は、今日のテスト要件を満たし、さらに明日のテスト要件にも対応しています。 その他の複数チャネルおよび他種のテスト 機器は、N4156A の初心者向け設定で容易に追加することができます。

投資収益率

N4156A は、実績と存続能力があるKeysight コンポーネントを結合して、コスト効率の高いテスト・ソリューションを達成しています。