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E4727A Advanced Low-Frequency Noise Analyzer

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価格: 日本

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関連ソフトウェア製品

  • No image available WaferPro Express 

    WaferPro Express

    • 半導体デバイスのウエハーレベル測定を自動実行
    • ターンキーのドライバー/テストルーチンを提供
    • Cascade Microtechとの協調製品であるウエハーレベル測定ソリューションの重要なソフトウェアコンポーネント
       

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    IC-CAPデバイス・モデリング・ソフトウェア

    DC/RF半導体デバイス・モデリングの業界標準。IC-CAPは、高速/デジタル、アナログ、パワーRF回路設計アプリケーションで使用されている正確でコンパクトなモデルを抽出します。

  • No image available MBP(Model Builder Program) 

    MBP(Model Builder Program)

    • 高速シミュレーションを実現する内蔵のSPICEエンジン
    • 業界標準モデルに対応する自動抽出パッケージ
    • モデリング専用のターンキーソリューション
    • 階層型の複雑なファンドリーライブラリのフルサポート
       

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    Model Quality Assurance (MQA)

    MQAは、ファブレスのデザイン・カンパニー、IDM、ファウンドリに、SPICEモデル・ライブラリを検証/比較/文書化するのに最適なソリューショ/フレームワークを提供します。

関連製品&ソリューション

  • Agilent B1500A Semiconductor Device Analyzer B1500A 半導体デバイス・パラメータ・アナライザ 

    B1500A 半導体デバイス・パラメータ・アナライザ

    • 最大10スロットまで測定モジュールを拡張/アップグレード可能
    • EasyEXPERTソフトウェア(内蔵のWindows 7で動作)
    • すぐに使用できる数百種類の測定ライブラリ
    • 15インチのタッチ・スクリーンを備え、特性評価でわかりやすい操作、解析、検証を実現
       

  • E5260A 8-Slot High Speed Measurement Mainframe E5260A IVアナライザ/8スロット高精度測定メインフレーム 

    E5260A IVアナライザ/8スロット高精度測定メインフレーム

    • IV特性評価用のオールインワンソリューション
    • 5 pAの低電流測定性能
    • 最大8スロットまで拡張/アップグレード可能なモジュラーアーキテクチャー
    • ご使用のPCで使用可能な、GUIベースのEasyEXPERT group+特性評価ソフトウェア
       

  • E5270B 8-Slot Precision Measurement Mainframe E5270B プレシジョンIVアナライザ/8スロット高精度測定メインフレーム 

    E5270B プレシジョンIVアナライザ/8スロット高精度測定メインフレーム

    • IV特性評価用のオールインワンソリューション
    • 0.1 fAの低電流測定性能
    • 最大8スロットまで拡張/アップグレード可能なモジュラーアーキテクチャー
    • ご使用のPCで使用可能な、GUIベースのEasyEXPERT group+特性評価ソフトウェア

  • 4142B Modular DC Source/Monitor 4142B 4142BモジュラDCソース/モニタ [販売・サポート終了製品] 

    4142B 4142BモジュラDCソース/モニタ [販売・サポート終了製品]

    4142Bは2003年7月1日に販売を終了しました。E5260A 8スロット高速測定メインフレームとE5270B 8スロット精密測定メインフレームは4142Bとコード互換性があり、ほとんどのアプリケーションで4142Bの代わりに使用できます。

  • No image available 4155B / 4156B 半導体パラメータ・アナライザ [販売・サポート終了製品] 

    4155B / 4156B 半導体パラメータ・アナライザ [販売・サポート終了製品]

    Keysight 4155B/4156B は、2000年 12月 1日に販売終了になっています。

  • 4155C and 4156C 4155C 半導体パラメータ・アナライザ [販売・サポート終了製品] 

    4155C 半導体パラメータ・アナライザ [販売・サポート終了製品]

    Keysight 4155C半導体パラメトリック・アナライザは、高度なデバイス特性評価のための、コストパフォーマンスの高い正確なラボ用ベンチトップ・ソリューションです。

  • No image available B1510A/B1511B/B1517A (B1500A-A10/A11/A17) ソース/メジャート・ユニット(SMU) 

    B1510A/B1511B/B1517A (B1500A-A10/A11/A17) ソース/メジャート・ユニット(SMU)

    • 4象限ソースと測定機能によるfAまでの正確なIV特性評価
    • 測定範囲:0.1 fA~1 A/0.5 µV~200 V
    • スポット/掃引/パルス/サンプリング測定機能
    • 漏れ電流補正によるQS-CV測定