検索された製品ページを表示しています その他の検索結果:

 

お問い合わせ窓口

Configure

価格: 日本

* 参考価格、標準納期は予告無く変更されることがあります。詳しくはお問い合わせ下さい。 価格は希望小売価格です

主な特長と仕様

IC-CAP 2013.01の新機能/アップデート機能

  • 新しいIC-CAP Angelov-GaNモデリング抽出パッケージ:ハイ・パワー、高周波GaNデバイスのAngelov-GaNモデルを簡単に抽出できます
  • 新しいPythonプログラミング:Pythonベースのまったく新しいプログラミング環境により、大幅な速度と生産性の向上を実現します
  • 新しいPNA-X測定器ドライバ:利得圧縮測定や相互変調歪み測定のサポートにより、デバイスの特性を直接評価したり、主要な非線形検証データをシミュレーション・データと比較することができます

概要

IC-CAP Device Modeling Software

IC-CAP 2013.01について

IC-CAP 2013.01 では、IC-CAPプラットフォームに重要な新機能が導入されています。IC-CAP 2013.01では、新しい窒化ガリウム(GaN)抽出パッケージ、新しいPythonプログラミング環境、PNA-Xドライバによる非線形測定のサポートに加えて、Smartspiceシミュレータのサポート、LINUXプラットフォーム上のNational Instrumentインタフェース/カードのサポートなど、さまざまな新機能が追加されています。

IC-CAP WaferProは、高性能の自動オンウェーハ測定ソリューションで、ユーザビリティの向上とユーザ・インタフェースの機能拡張により、テスト・プランの開発が容易になります。IC-CAP DataProは、バッチ処理機能の追加により、さまざまなサイズのデバイスの解析を自動化できます。

IC-CAP Angelov-GaN抽出パッケージ

KeysightのIC-CAP Angelov-GaN 抽出パッケージ は、業界パートナーと共同で開発しました。ソフトウェア・アドオンは、Angelov-GaNモデルの必要な測定や抽出を実行できる専用の環境を提供します。Angelov-GaNモデルは、Chalmers工科大学のIltcho Angelov教授によって開発され、業界のGaNモデリング用ソリューションとしての地位を瞬く間に確立しつつあります。このソフトウェアは、DC測定、Sパラメータ測定、ディエンベディングをサポートします。抽出開始手順として、ターンキー抽出フローが提供されます。このフローはフル・カスタマイズ可能です。シミュレーションは、KeysightのAdvanced Design System(ADS)を使用して実行します。

Angelov-GaN Toolkit

図1. Angelov-GaNツールキット

IC-CAP Pythonプログラミング環境

IC-CAP 2013.01はまた、新しいPythonプログラミング環境により、カスタム・アプリケーションの大幅な速度の向上(パラメータの抽出、データの解析、測定器の制御、UIの応答性などの代表的な作業の場合で最高100倍)と、生産性の向上を実現できます。Pythonプログラミング環境では、より高品質なコードの編成が可能で、演算、測定器制御、統計解析など幅広いライブラリを提供します。IC-CAP Pythonを使用すれば、プログラムの開発効率が大幅に向上します。Pythonプログラムは既存のPELプログラムと共存および相互運用が可能なので、既存のIC-CAPプロジェクトとの互換性を確保できます。IC-CAP PELプログラミング言語も引き続きフル・サポートされています。準備方法およびIC-CAP Pythonサンプル・プログラムの表示方法については、IC-CAPの製品マニュアル を参照してください。トレーニングや参考資料など、Pythonの詳細については、Pythonの公式Webサイト(https://www.python.org/ )をご覧ください。

PNA-Xドライバによる非線形測定のサポート

PNA-Xネットワーク・アナライザ用の新しいドライバが追加されました。新しいドライバは現在のPNAドライバのスーパーセットで、リニアSパラメータ測定に加えて、利得圧縮測定や2トーン相互変調歪み測定をサポートしています。ADSのハーモニック・バランス・シミュレーションと測定データを比較することによって実際のアプリケーションにおけるモデルの確度を検証するために、これらの非線形測定が極めて重要です。PNA-Xでの自動オンウェーハ測定を用いれば、回路仕様をモニタすることができます。

IC-CAP WaferPro

IC-CAP ウェーハ・プロフェッショナル測定(WaferPro)は、主要機能の拡張とユーザビリティの向上により、プログラムの習得や使いやすさが向上します。簡単なI-V/C-V掃引を実現する新しいテスト・ルーチンを用いれば、プログラミング作業が不要です。例えば、新しいテスト・ルーチンの定義も非常に簡単で、入力/出力の設定を定義し、スタート、ストップなどの値を制御するための変数をいくつか作成するだけで済みます。この他にも、新しいログ・ウィンドウ、テスト・プランの実行前に表示される新しい確認ダイアログ、ユーザ・インタフェースからのベンチの定義/保存機能など、UIが大幅に向上しています。

New IC-CAP WaferPro User Interface

図2. 新しいWaferProのユーザ・インタフェース

IC-CAP 2013.01のライセンス

IC-CAP 2013.01を使用するには、新しいライセンス・バージョンFlex 3.0が必要です。

詳細

このリリースでの新機能の詳細な説明や例については、"What’s New in IC-CAP 2013.01?" のプレゼンテーションをご覧ください。

Solarisの販売完了

以前お知らせしたように、Solaris(SUN OS)プラットフォームが販売完了となり、IC-CAP 2013.01はLINUX Red HatおよびWindows®オペレーティング・システムのみをサポートします。

IC-CAPの試用

IC-CAPの評価版をご希望の方は、キーサイトEDA担当営業までご相談ください

別のバージョンの検索:その他のIC-CAP製品バージョンを表示してください。