検索された製品ページを表示しています その他の検索結果:

 

お問い合わせ窓口

Configure

価格: 日本

* 参考価格、標準納期は予告無く変更されることがあります。詳しくはお問い合わせ下さい。 価格は希望小売価格です

主な特長と仕様

  • 一定の温度範囲で1つ以上のウェーハの自動測定が可能
  • 一般的なプローバ、スイッチ・マトリクス、サーマル制御チャック用ドライバが付属
  • ウェーハ・マップのサポート
  • 407X/408X Keysightパラメトリック・テスト・システムによる高速測定
  • 付属の多数の定義済みサンプル・テスト・プランにより、容易で効率的な立ち上げを実現
  • オペレータによる監視が不要で、温度が変化した時にウェーハを自動的に再調整可能
  • テストを中断することなく、結果、ステータス、データ、プロットのリアルタイム表示が可能
  • 位置、ステータス、結果、データを実行中にモニタでき、更新をメールで受信可能
  • ユーザ定義された合否判定基準に基づいて、高度な例外処理が可能
  • 高度なアーキテクチャによる、効率的なデータ構成および高速データ解析/処理
  • 異なるハードウェアを使用したさまざまなテスト・ステーションで、テスト・プランをシームレスに実行可能
  • 幅広いDC/CVおよびRF測定のサポート
  • n端子デバイス(MOS、DIODE、パッシブなど)測定のサポート
  • .mdmおよび.csvファイル・フォーマットでの保存
  • テスト・モード(測定ではなくシミュレーションを実行)とポスト・プロセス・モードによる、柔軟なテストと開発の実現
  • カスタマイズとテストが容易な、強力なデバッグ・モード

概要

IC-CAPウェーハ・プロフェッショナル測定(WaferPro) は、デバイス・モデリング・エンジニアのためのターンキー自動測定アプリケーションで、DC/CV測定やRF測定がIC-CAPプラットフォームに統合されています。WaferProは、大手半導メーカとの提携により、開発されました。 IC-CAPの優れた測定/プログラミング環境を活用し、アダプティブ測定アルゴリズムなどの効率的な測定ルーチン(内蔵またはユーザ定義)のライブラリが使用でき、測定時間の大幅な削減と効率の向上を実現しています。1日で機能させることが可能なほどシンプルな上、カスタマイズ可能で柔軟性も備え、さまざまなテスト/測定環境に合わせて最適化することができます。

How IC-CAP Wafer Pro Works

IC-CAP WaferProは、IC-CAPと他のテスト機器を統合した測定ソリューションで、ウェーハ・マッピング、デバイス、テスト条件、校正、収集データを制御/指定する機能により、完全なテスト環境の効率的な協調を実現します。データ・ファイルは自動的に保存され、さまざまなファイル・フォーマットがサポートされています。

WaferProでは、操作やカスタマイズを容易に行うことができます。代表的なテスト・プラン・プロジェクトでは、最初にウェーハ・マップを定義した後、ダイ/サブストレートの位置などのウェーハの特性、測定対象デバイスのタイプや特性、そして使用するハードウェアのタイプごとにピンやプローブ・カードのリファレンスを指定します。テストのニーズや目的ごとに、どのタイプの測定(スポット、掃引、DC、RFなど)を実行すべきかに基づいて、デバイスをグループ化/識別することができます。

測定ルーチンをIC-CAPモデル環境でカスタマイズ/定義でき、測定結果のポスト・プロセッシング(例えば、fT、gmax、Vtの計算)に既存のPELコードを利用することができます。テスト・プランの実行中、ログが表示されますが、測定結果は連続的に更新されます。また、履歴ログを選択して特定のデバイスの測定済みデータを簡単に表示できます。

IC-CAP Wafer Pro

IC-CAP WaferProのまとめ:

  • デバイス・モデリング・エンジニア向けの優れた測定/評価テスト・プラン・スイートを提供します。
  • さまざまなベンチやテスト・ステーション(Keysightのパラメトリック・テスタを含む)と組み合わせて容易に使用できます。
  • 測定効率を最大化するための必要なカスタマイズ・レベルを備えています。
  • 高度な統計解析/モデリングを行うためのベースを構築できます。

IC-CAPデバイス・モデリング・ソフトウェアに戻る。