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IEEE 1149.6バウンダリ・スキャン 

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価格: 日本

* 参考価格、標準納期は予告無く変更されることがあります。詳しくはお問い合わせ下さい。 価格は希望小売価格です

主な特長と仕様

  • IEEE 1149.1、1149.6規格に準拠
  • 以下のテストを実行:
    -スキャン・パス・インテグリティ・テスト
    -接続テスト
    -電源付きショート
    -インターコネクト・テスト
    -バス・ワイヤ・テスト
    -ショート・キャパシタ・テスト

概要

YHP、HP、アジレントから引き継がれるインサーキットテスタのラインナップをご覧ください。 

IEEE(Institute of Electrical and Electronics Engineers)は、AC結合信号を対象とするIEEE 1149.6規格を公表しました。一言で言えば、IEEE 1149.1がDC信号に対して果たす役割を、IEEE 1149.6はAC結合信号に対して果たします。この種類の信号は一般的に、ドライバとレシーバの間の結合キャパシタによって示されます。

IEEE-1149-6

このようなトポロジーでは、キャパシタを通ってレシーバRXに到達する信号は、時間とともに減衰します(図1)。IEEE 1149.1規格は、減衰する信号を扱えません。受信側のバウンダリ・レジスタがそのような機能を持たないからです。IEEE1149.6規格の目的はこの問題に対応することであり、Keysight ICTテスタでの実装はバウンダリ・スキャンの対象範囲を広げます。

さらに大きい利点として、バウンダリ・スキャン非対応のノードをバウンダリ・スキャン・ノードと並行してテストできるため、ボード上のテスト・カバレージを広げることができます。このような「ICTネイティブ」実装により、より強力なソリューションを実現できます。

詳細については、追加の 製品情報をご請求ください。

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