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IEEE 1149.1 InterconnectPlusバウンダリ・スキャン 

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価格: 日本

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主な特長と仕様

  • IEEE 1149.1規格に準拠
  • 以下のテストを実行:
    スキャン・パス・インテグリティ・テスト
    接続テスト
    電源付きショート
    インターコネクト・テスト
    バス・ワイヤ・テスト

概要

YHP、HP、アジレントから引き継がれるインサーキットテスタのラインナップをご覧ください。 

IEEE 1149.1は、IEEE(Institute of Electrical and Electronics Engineers)が1990年に承認した規格で、デバイスのコア・ロジックのファンクションを知らなくてもデバイスのテストを実行できるようにするものです。これは主に、直列のレジスタのチェーンによって実現されています。各レジスタは、デバイスの1つの信号ピンに対応しています。このバウンダリ・レジスタは、デバイスのコア・ロジックと、デバイス・パッケージの外部に通じるデバイスのピンとの間に存在します。これらのバウンダリ・レジスタの動作は、TAPコントローラと呼ばれるものによって制御されます。このアーキテクチャは、デバイスのシリコン内部で完全に実現されています(図1)。

Model of  Boundary Scan Device

バウンダリ・スキャン対応の複数のデバイスを互いに接続することにより(図2)、ノードの相互接続が作成されます。製造テストの主な目的は、ショートとオープンの欠陥を見つけることです。これは、ICの間のこのノード相互接続を通じて特定のビット・シーケンスを注入することによって実現されます。特定の入力パターンに対して、特定のパターンが出力に現れることが期待されます。パターンが異なる場合は、それによって欠陥の性質と位置がわかります。

Interconnect Nodes

信号の供給と受信はバウンダリ・レジスタによって行われるため、相互接続ノードに対する物理的なテスト・アクセスは不要です。

Keysight ICTシステムにIEEE 1149.1が実装されたことにより、この規格に準拠したテストを自動的に作成できるようになりました。さらに大きい利点として、バウンダリ・スキャン非対応のノードをバウンダリ・スキャン・ノードと並行にテストできるため、ボード上のテスト・カバレージを広げることができます。このような「ICTネイティブ」実装により、より強力なソリューションを実現できます。

詳細については、追加の 製品情報をご請求ください。

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