- 最大ノード数: 2592
- 最大チャネル数: 576
- フットプリント: 1.8 m x 0.8 m / 5.8’ x 2.6’
- 最大モジュール数: 2
YHP、HP、アジレントから引き継がれるインサーキットテスタのラインナップをご覧ください。
E9902E i317 x Series 5システムは、インサーキット・テスト機能だけでなく、追加のテスト機能が必要なほとんどの主要エレクトロニクス・メーカのニーズに対応し、PCBAのテスト・カバレージを最大化します。2モジュール構成の i3070 はノード数がそれほど必要ないユーザに最適です。
すべてのi3070 Series 5テスト・システムに新しいユーティリティカードを導入することができるので、外部機器/測定器の制御/接続の柔軟性が高まります。このシステムを使用すれば、システムに統合されているかのように、外部機器をテストヘッド内に接続できます。外部機器により、ファンクション・テスト回路としてICTのファンクション・テストのカバレージを拡大したり、被試験基板に信号を追加入力してテスト・カバレージを拡大することができます。外部機器、テスト・シーケンス、テスト結果はやはり、BT-BASICテストプランで制御され、使い慣れているテストヘッドPCコントローラによって制御が実行されます。
今日のPCBAは、機能の向上による消費電力の増加に対応するために、電流容量が高くなっています。今では、テスタから被試験機器に10 Aの電流を供給することができます。電源ポートを多重化することも可能なので、1つの電源で最高6つのボードに電力を同時に供給できます。各電源チャネルはリレーによって制御されるため、被試験基板は保護されます。
i3070 Series 5テスト・システムには、アナログ・テスト速度を20 %高めることができる新しいアナログ・テスト・サブシステム (ASRU) が組み込まれているので、被試験基板のスループットが向上します。
以前のリビジョンのテスト・システムではテスト・アクセスが制限されていたテスト・ツールも使用できます。
大きなボードをより広いテスト・カバレージでより迅速にテストしたい場合は、E9903E i307x Series 5システムが最適です。
i3070 Series 5の詳細については こちらをご覧ください。
Medalist i3070テスト・システムはすべて、Muxピン・カードとUnMuxピン・カードに対応しています。これにより、このシステムをより柔軟に使用できます。
特長 |
アナログ・プラス (Mux) |
アクセス・プラス (Mux) |
ハイブリッド・プラス (Mux) |
ハイブリッド144 (Unmux) |
カード当たりのテスト・ノード数 |
144 |
8×高周波10:28測定器ポート24×GPリレー |
144 |
144 |
カード当たりのデジタル・チャネル数 |
‐ |
‐ |
16 |
144 |
最大パターン・レート/周波数 |
‐ |
高周波:100MHz 測定器ポート:25MHz GPリレー:‐ |
6/12/20 MPS |
6 MPS |
モジュール/システム当たりの最大カード枚数** |
9/18 |
9/18 |
9/18 |
9/18 |
アナログ電圧範囲 |
0~100 V |
0~100 V |
0~100 V |
0~100 V |
デジタル・ドライブ/レシーブ範囲 |
‐ |
‐ |
-3.5~5.0V |
0~4.75V |
エッジ配置精度 |
‐ |
‐ |
±10 ns |
±10 ns |
** ピン・カードの総数は、モジュール当たり9枚までです。
i3070の機能と利点の詳細について
詳細については、 追加の製品情報をご請求ください。