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価格: 日本

* 参考価格、標準納期は予告無く変更されることがあります。詳しくはお問い合わせ下さい。 価格は希望小売価格です

主な特長と仕様

  • 最大ノード数: 5184
  • 最大チャネル数: 1152
  • フットプリント:2.4 m x 0.8 m / 7.8’ x 2.6’
  • 最大モジュール数: 4

概要

YHP、HP、アジレントから引き継がれるインサーキットテスタのラインナップをご覧ください。

E9903E i307x Series 5は、i3070 Series 5ファミリの中でノード数が5184個と最大です。このシステムには、前機種のE9903D i307xシステムと同じ、使いやすいGUIが搭載されています。数十年前に最初のSeries 1 3070テスト・システム がリリースされて以来、今日の電子部品で求められる低電圧でのテスト機能を含め、可搬性、信頼性、安定度が維持されています。

すべてのi3070 Series 5テスト・システムに新しいユーティリティカードを導入することができるので、外部機器/測定器の制御/接続の柔軟性が高まります。このシステムを使用すれば、システムに統合されているかのように、外部機器をテストヘッド内に接続できます。外部機器により、ファンクション・テスト回路としてICTのファンクション・テストのカバレージを拡大したり、被試験基板に信号を追加入力してテスト・カバレージを拡大することができます。外部機器、テスト・シーケンス、テスト結果はやはり、BT-BASICテストプランによって制御され、使い慣れているテストヘッドPCコントローラによって制御が実行されます。

今日のPCBAは、機能の向上による消費電力の増加に対応するために、電流容量が高くなっています。今では、テスタから被試験機器に10 Aの電流を供給することができます。電源ポートを多重化することも可能なので、1つの電源で最高6つのボードに電力を同時に供給できます。各電源チャネルはリレーによって制御されるため、被試験基板は保護されます。

i3070 Series 5テスト・システムには、アナログ・テスト速度を20 %高めることができる新しいアナログ・テスト・サブシステム (ASRU) が組み込まれているので、被試験基板のスループットが向上します。

以前のリビジョンのテスト・システムではテスト・アクセスが制限されていたテスト・ツールも使用できます。

大きなボードをより広いテスト・カバレージでより迅速にテストしたい場合は、E9903E i307x Series 5システムが最適です。

i3070 Series 5の詳細については こちらをご覧ください。

Medalist i3070テスト・システムはすべて、Muxピン・カードとUnMuxピン・カードに対応しています。これにより、このシステムをより柔軟に使用できます。

特長 アナログ・プラス
(Mux)
アクセス・プラス
(Mux)
ハイブリッド・プラス
(Mux)
ハイブリッド144
(Unmux)
カード当たりのテスト・ノード数 144 8×高周波10:28測定器ポート24×GPリレー 144 144
カード当たりのデジタル・チャネル数 16 144
最大パターン・レート/周波数 高周波:100MHz
測定器ポート:25MHz
GPリレー:‐ 
6/12/20 MPS 6 MPS
モジュール/システム当たりの最大カード枚数** 9/36 9/36 9/36 9/36
アナログ電圧範囲 0~100 V 0~100 V 0~100 V 0~100 V
デジタル・ドライブ/レシーブ範囲 -3.5~5.0V 0~4.75V
エッジ配置精度 ±10 ns ±10 ns

** ピン・カードの総数は、モジュール当たり9枚までです。

i3070の機能と利点の詳細について

詳細については、 追加の製品情報をご請求ください。

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