- 最大ノード数: 1296
- 最大チャネル数: 288
- 最大モジュール数: 1
- 標準サイズ: 1.3 m×0.8 m
- E9901EL「小型」バージョンの大きさ: 1.0 m×0.8 m(大きさが25 %低減)
YHP、HP、アジレントから引き継がれるインサーキットテスタのラインナップをご覧ください。
E9901E i307x Series 5は、小型のボードをフットプリントの小さなテスタでテストするのに必要十分なノードを備えています。このシステムには、前機種のE9901D i307xシステムと同じ、使いやすいGUIが搭載されています。数十年前に最初のSeries 1 3070テスト・システム がリリースされて以来、今日のコンポーネントで求められる低電圧でのテスト機能を含め、可搬性、信頼性、安定度が維持されています。
すべてのi3070 Series 5テスト・システムに新しいユーティリティカードを導入することができるので、外部機器/測定器の制御/接続の柔軟性が高まります。このシステムを使用すれば、システムに統合されているかのように、外部機器をテストヘッド内に接続できます。外部機器により、ファンクション・テスト回路としてICTのファンクション・テストのカバレージを拡大したり、被試験基板に信号を追加入力してテスト・カバレージを拡大することができます。外部機器、テスト・シーケンス、テスト結果はやはり、BT-BASICテストプランによって制御され、使い慣れているテストヘッドPCコントローラによって制御が実行されます。
今日のPCBAは、機能の向上による消費電力の増加に対応するために、電流容量が高くなっています。今では、テスタから被試験機器に10 Aの電流を供給することができます。電源ポートを多重化することも可能なので、1つの電源で最高6つのボードに電力を同時に供給できます。各電源チャネルはリレーによって制御されるため、被試験基板は保護されます。
i3070 Series 5テスト・システムには、アナログ・テスト速度を20 %高めることができる新しいアナログ・テスト・サブシステム (ASRU) が組み込まれているので、被試験基板のスループットが向上します。
以前のリビジョンのテスト・システムではテスト・アクセスが制限されていたテスト・ツールも使用できます。
小さなボードを制約のあるエリアでより広いテスト・カバレージでより迅速にテストしたい場合は、E9901E i307x Series 5システムが最適です。
i3070 Series 5の詳細については こちらをご覧ください。
機能 |
アナログ・プラス (Mux) |
アクセス・プラス (Mux) |
ハイブリッド・プラス (Mux) |
ハイブリッド144 (Unmux) |
カード当たりのテスト・ノード |
144 |
8×高周波10:28測定器ポート24×GPリレー |
144 |
144 |
カード当たりのデジタルチャネル数 |
- |
- |
16 |
144 |
最大パターン・レート/周波数 |
- |
高周波:100MHz 測定器ポート:25MHz GPリレー:- |
6/12/20 MPS |
6 MPS |
モジュール/システム当たりの最大カード枚数** |
9/9 |
9/9 |
9/9 |
9/9 |
アナログ電圧範囲 |
0~100 V |
0~100 V |
0~100 V |
0~100 V |
デジタル・ドライブ/レシーブ範囲 |
- |
- |
-3.5~5.0 V |
0~4.75 V |
エッジ配置精度 |
- |
- |
±10 nS |
±10 nS |
** ピン・カードの総数は、モジュール当たり9枚までです。
i3070の機能と利点の詳細について
詳細については、 追加の製品情報をご請求ください。