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価格: 日本

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主な特長と仕様

デジタル・カバレージ

  • i1000Dのデジタル・サブシステムは、業界最先端のMedalist i3070 ICT固有の使い易さやさまざまな機能を利用して、テスト速度を調整したり、マウスを数回クリックするだけで電圧をドライブ/受信する性能を提供しています。

豊富なバウンダリ・スキャン機能

  • i1000は、一般的なバウンダリ・スキャン/コネクト・テストからインターコネクト・テストまで、あらゆるバウンダリ・スキャン機能を備え、ICTの性能をさらに強力にしています。

強力なデバッグ・インタフェース

  • デジタル・デバッグGUIは、i3070の押しボタン・デバッグGUIの制御性および柔軟性を継承し、デジタル・テスト・パラメータやテスト・ソース・コードを完全に制御することができます。

低コストのフィクスチャ

  • Medalist i1000Dは、従来のMDA型のロング・ワイヤード・プレス・ダウン・フィクスチャを使用して、デジタル・テストを実行します。バウンダリ・スキャン・テスト、シリアル・プログラミング、ライブラリ・ベースのテストを簡単に実行できます。使い易く、効果的なテスト・ソリューションでMDA型フィクスチャなので、低コストのフィクスチャを使用できます。

概要

YHP、HP、アジレントから引き継がれるインサーキットテスタのラインナップをご覧ください。

Keysight Medalist i1000Dは、さらに改善されています。このシステムは、新しいデジタル版のリリースによりアナログのみのICTから向上しており、ピン単位でプログラム可能なデジタル・カード、プログラミングや開発作業を軽減する直観的なソフトウェア・グラフィカル・ユーザ・インタフェース(GUI)を備えています。

Medalist i1000Dは、新しいデジタル機能を備え、デジタルPCF/VCLライブラリ・ベースのテスト、バウンダリ・スキャン、I2C/SPIシリアル・プログラミングを低価格なロング・ワイヤード・テスト・フィクスチャで実行できるようになりました。広範囲のテスト・カバレージをお探しのお客様に、より優れた製品を、これまでの価格で提供します。

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