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B1530A (B1500A-A30, B1500AU-030) 波形発生器/高速測定ユニット(WGFMU)

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価格: 日本

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    • CV、C-t、C-f測定用のマルチ周波数ACインピーダンス測定機能
    • 1 kHz~5 MHzの周波数レンジ
    • 25 Vの内蔵DCバイアスとSMU/SCUUによる100 VのDCバイアスSCUUによる簡単で高速で正確なIV/CV測定

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    • 不揮発性メモリの評価に適した高電圧出力(最大±40 V)
    • 各チャネルによる2レベル/3レベル・パルス機能のサポート
    • 10 nsの分解能での柔軟な任意波形の作成
    • モジュール当たり2チャネル

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    • 4象限ソースと測定機能によるfAまでの正確なIV特性評価
    • 測定範囲:0.1 fA~1 A/0.5 µV~200 V
    • スポット/掃引/パルス/サンプリング測定機能
    • 漏れ電流補正によるQS-CV測定

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    E5250Aは、プラグイン・モジュールにより、汎用パラメトリック測定用のクロスポイント・マトリクス、または長期信頼性評価を行なうマルチプレクサとして構成することができます。

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    半導体パラメータ・アナライザとウェーハ間に配置された高性能スイッチング・マトリックスにより、評価テストを自動化してテスト・コストを削減できます。

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    B1542A 10 nsパルスドIVパラメトリック・テスト・ソリューション

    • 高k/SOIパルスドIV特性評価に最適なソリューション
    • 10 nsの最小ゲート・パルス幅、2 nsの立ち上がり/立ち下がり時間
    • 1 μsの電流測定分解能
    • サポート測定器:B1500A、E5270B、E5260A、E5262A/63A、4155B/C、4156B/C

  • Agilent B1500A Semiconductor Device Analyzer B1500A 半導体デバイス・パラメータ・アナライザ 

    B1500A 半導体デバイス・パラメータ・アナライザ

    • 最大10スロットまで測定モジュールを拡張/アップグレード可能
    • EasyEXPERTソフトウェア(内蔵のWindows 7で動作)
    • すぐに使用できる数百種類の測定ライブラリ
    • 15インチのタッチ・スクリーンを備え、特性評価でわかりやすい操作、解析、検証を実現