- 4種類のテスト用治具(DUTのサイズ:0.5 mm~20 mm)
- 2つのチャネルで独立パラメータが選択可能
- 誘電率、透磁率(オプション )の直接測定
- 2種類の材料治具(動作温度:-55℃~+200℃)
- さまざまな解析機能(温度、Cole-Coleプロット、緩和時間解析)
- さまざまな掃引パラメータ(周波数、ACレベル、DCバイアス、温度)
E4291A RFインピーダンス/マテリアル・アナライザは、表面実装コンポーネントや誘電/磁性材料を高確度に測定できます。4291Bは反射測定法ではなく、電流-電圧測定法を使用しているため、広範囲のインピーダンスを正確に測定することができます。
基本インピーダンス確度は、± 0.8%で、Q確度が高いため、低損失コンポーネントの解析が可能です。内蔵シンセサイザは、1 MHz~1.8 GHzの周波数を1 mHz分解能で掃引できます。またケーブルは、1.8 mの誤差の少ないケーブルを使用しており、確度を犠牲にせずにテスト・ポイントとアナライザの距離を離すことができます。さらに高度な校正および誤差補正機能により、測定治具内の測定誤差要因を取り除いて、DUT/MUTで優れた確度と再現性を実現できます。
4291BではIBASICを用いて、レベル制御とテスト信号のモニタを自動的に行え、一定の電圧/電流でデバイスを測定することができます。オプションのDCバイアス(最大40 Vおよび100 mA)を使用すれば、バイアス依存のインピーダンス測定が行えます。また内蔵の等価回路解析機能により、ワンボタンで、5種類の回路モデルの回路定数が自動的に計算されます。
4291Bは2個の測定チャネルを備え、各チャネルを1つ(たとえば、Z)または2つ(たとえば、Z‐θ)のインピーダンス・パラメータ測定用に設定することができます。またカラーTFTは分割表示でき、アクティブ・トレースとメモリ・トレース(RAMに保存された)の両方を表示できます。内蔵のフロッピー・ディスク・ドライブは、プログラムやテスト・データをLIF/MS-DOSフォーマットで保存できます。 内蔵のIBASICにより、恒温槽やウェーハ・プローバなどの外部テスト機器を4291Bから直接制御することもでき、専用の測定器コントローラは必要ありません。
材料評価
4291Bを使用すると材料の評価が容易に行え、材料評価の品質および効率が向上します。4291Bは包括的な誘電/磁性材料測定ソリューションを広い周波数範囲(1 MHz~1 GHz)で実現しています。
◆4291Bの詳細仕様(データシート)は、 こちらから(5.45MB)
◆関連マニュアルは、 こちらから
◆関連FAQは、 こちらから