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主な特長と仕様

  • ウェーハのドーピング・プロファイル用のC-V測定
  • バラクタ・ダイオードのC-V特性評価および分類
  • RFミキサ/スイッチング・ダイオードのキャパシタンス・テスト
  • 受入れ検査用のDCバイアス印加によるキャパシタ・テスト
  • 測定時間: 10ms/20ms/30ms
  • 測定確度:0.1% (20ms)
  • 内蔵DCバイアス:0~±38V、0.1%プログラマブル掃引
  • 測定範囲:0.00001 pF~1280 pF

概要

販売終了のお知らせ:4279Aは2007年3月1日付で販売を終了する予定です。4279Aの注文最終日は2007年2月28日、サポート期間終了日は2012年3月1日の予定です。後継製品はE4980Aです。 詳細はこちらを参照してください。

Keysightの推奨代替製品を表示: 移行ガイド

表示する: E4980A高精度LCRメータのビデオ・デモ(英語)

4279A C-Vメータは、半導体のキャパシタンスとバイアス電圧測定に最適なソリューションです。4279Aを使用すると、0.00001 pF~1280.00 pFのキャパシタンスを、DCバイアス電圧を掃引しながら6桁の表示分解能、0.1%の基本確度で測定できます。内蔵プログラマブルDCバイアス信号源は、±38Vレンジにわたって0.1%の電圧確度を備え、低バイアス電圧の不確かさに起因する測定誤差を非常に低く抑えることができます。これにより4279Aは、バラクタ・ダイオード、MOSダイオードなどを正確に評価/テストできます。測定時間は10ms、20ms、30ms/測定の3つのモードから選択できます。また、非常に高速なレンジ切り替え、高速GPIBデータ転送機能により、テスト時間を短縮できます。さらに自動バイアス極性制御機能により、被試験デバイス用の適切な極性のバイアス電圧をすぐに選択できます。この新機能は、受入れ/出荷検査でサンプルを手動テストする際にも便利な機能で、自動テスト・システムでは簡単に極性を制御できるようになります。