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信頼性試験 - 先進の拡張性に富む統合された信頼性 (ASUR)

重大なテクノロジー旋風

業界のジレンマ: 革新はより高いリスクを伴う
ナノメートル・スケールのテクノロジーと新しい材料の開発は、その試験が課題であることにスポットライトを当てました。
テクノロジー・レポートおよびロードマップからアナリストのレポートに至るまで、半導体業界に与える試験のインパクトは、とくに 300 mm 時代以降、甚大であると訴えています。それは、信頼性データが新しい材料選択に不可欠であるからです。それゆえ、近代製造では、拡張性に富むコスト効率に優れたパラメトリック試験および信頼性試験が極めて重要になっています。

ASUR ファミリ:

1 つのハードウェア・ファミリ、1 つのソフトウェア・ファミリで測定器からシステムまで
ASUR は拡張性に富むソリューションです。そのデータは、測定器からシステムへ、さらにパッケージ化されたテスタへ相関を保つことができます。ASUR は、集積デバイス・メーカ (IDM)、半導体ファウンダリ、ファブレス会社および装置会社において、その製造工程の成熟を支援しながら開発サイクルの短縮に貢献します。IC のライフ・サイクルを通して、開発、認定、製造、信頼性検証にわたるあらゆるフェーズにおいて有用です。

  • 精密アーキテクチュアと拡張性に富む試験
    - 業界唯一の真の拡張性に富むプラットフォーム・ソリューション・アーキテクチュア
    - 真のパー・ピンからマルチ・グループまで、無駄の無い 1 つのソフトウェアで
  • Keysight WLR テクノロジー DNA 内蔵
    - Keysight 信頼性 DNA は今や第 5 世代
    - 1 つのハードウェア・ファミリ、1 つのソフトウェア・ファミリ
  • 優れた現象検出能力
    - 新しい信頼性現象の捕捉に発揮される優れた精巧さと制御能力
    - より正確な統計を実現する先進の検出メカニズムで、より良い判断
  • 業界唯一の専用の信頼性解析環境
    - 強力に統合された解析と問題解決により、すぐに情報入手
    - 半導体業界において 10 年間、オリジナルで唯一進化を続ける解析の標準
  • ビジネス判断のタイミング改善
    - 信頼のおけるマーケッティング判断と計画立案をリアルタイムで
    - 迅速で低価格、高い確実性と信頼性
  • C1280A ASUR 並列デバイスの信頼性 (ASUR PDR) [販売・サポート終了製品] C1280A ASUR 並列デバイスの信頼性 (ASUR PDR) [販売・サポート終了製品] 

    C1280A ASUR 並列デバイスの信頼性 (ASUR PDR) [販売・サポート終了製品]

    Keysight の先進の拡張性に富む統合された信頼性 (ASUR) 試験ファミリは、異なるニーズ、予算、経験、計画を見越して、広範なソリューションを用意しています。

  • C1281A ASUR 単一デバイスの信頼性 (ASUR SDR) [販売・サポート終了製品] C1281A ASUR 単一デバイスの信頼性 (ASUR SDR) [販売・サポート終了製品] 

    C1281A ASUR 単一デバイスの信頼性 (ASUR SDR) [販売・サポート終了製品]

    ASUR SDR は、高性能低価格の加速信頼性試験およびパラメトリック試験ソリューションです。

  • C1282A ASUR 信頼性データ・アナライザ (ASUR RDA) [販売・サポート終了製品] C1282A ASUR 信頼性データ・アナライザ (ASUR RDA) [販売・サポート終了製品] 

    C1282A ASUR 信頼性データ・アナライザ (ASUR RDA) [販売・サポート終了製品]

    ASUR RDA は、高性能低価格の加速信頼性試験およびパラメトリック試験のデータ解析ソリューションで、信頼性解析に最適化されています。ASUR RDA は、試験サイクル・タイムと判断時間の短縮のために、ライフタイム抽出を速めます。

  • 信頼性試験とパラメトリック試験のコンサルティング [販売・サポート終了製品] 信頼性試験とパラメトリック試験のコンサルティング [販売・サポート終了製品] 

    信頼性試験とパラメトリック試験のコンサルティング [販売・サポート終了製品]

    私たちの知識ベースは、半導体業界における信頼性試験とパラメトリック試験の殆どあらゆる側面において 100-人・年を超える経験の上に確立されています。

  • 製造ウェハー・レベル信頼性 (PDQ-WLR) [販売・サポート終了製品] 製造ウェハー・レベル信頼性 (PDQ-WLR) [販売・サポート終了製品] 

    製造ウェハー・レベル信頼性 (PDQ-WLR) [販売・サポート終了製品]

    近代半導体プロセスにおける製造ラインの寿命は、ますます短くなっています。そして、ウェハー・レベルの信頼性 (WLR) データの重要性がひじょうに高くなっています。