Integrated Photonics Test Products

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- English | 2019-09-19 |

Keysight provides test solutions for fast and efficient integrated and silicon photonics wafer and chip level test consisting of:

- Wavelength and polarization dependent optical and electro-optical measurements from 1240-1640nm with

- High frequency electro-optics measurements up to 110GHz with

- Wafer probing with FormFactor Silicon Photonics CM300xi probe station

- Test Automation with:

Test recipes ad measurement plan definition and execution with KS8400A Keysight Test Automation Platform (TAP)
Automated wafer probe station control with N7700210C Wafer Prober TAP Plug-In
Automated E/O and O/E LCA measurement with N4370P01A LCA TAP Plug-In

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KS8400A Test Automation on PathWave
KS8400A Test Automation on PathWave

高度で柔軟性の高い拡張可能なテスト・シーケンサー・ソフトウェア

テストプランの速度の最適化に役立つタイミング・アナライザ

テストプランのデータの表示、比較、解析に役立つ結果ビュワー

テストプランの作成／トラブルシューティングを容易にするGUI

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フォトニック・アプリケーション・スイート

フォトニック・アプリケーション・スイート

N7700Aフォトニック・アプリケーション・スイートは、光コンポーネントや光信号の特性評価／解析を高速かつ容易に実行できるモジュラ型ソフトウェア・プラットフォームです。

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N4370P01A LCA TAP Plug-In
N4370P01A LCA TAP Plug-In

Test steps for devices with either single-ended or balanced RF ports

Clear step configurations for measurement settings, calibration and de-embedding

Template for result display in TAP Result Viewer

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N7700210C ウエハープローバーTAPプラグイン
N7700210C ウエハープローバーTAPプラグイン

TAPテストシーケンス内部でウエハープローバー制御を容易に統合

自動デバイスステッピング、光／電気プローブのポジショニング／アライメント

アレイ／シングル・ファイバー・プローブ、エッジ／表面結合、RF/DCプローブのサポート

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