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デバイスモデリング／特性評価製品

WaferPro Expressオンウェーハ測定プログラム・ソフトウェア

さまざまな測定器とウエハープローバーを使用できる、ウエハーレベル測定／プログラミングテスト用ソフトウェア。

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WaferPro Expressソフトウェアで、トランジスタ、回路コンポーネントなどの半導体デバイスの自動ウエハーレベル測定を行えます。さまざまな測定器とウエハープローバー向けに、ターンキードライバとテストルーチンを提供します。新しいユーザーインタフェースにより、複雑なウエハー・レベル・テスト・プランのセットアップと実行が容易になり、さらに、最新のPythonプログラミング環境により、強力なカスタマイズ機能を実現しています。

WaferPro Expressは、キーサイト・テクノロジーとCascade Microtechの協調製品であるウエハーレベル測定ソリューション(WMS)の中核となるソフトウェアコンポーネントです。WMS製品により、最初の測定の時間を大幅に短縮でき、デバイス／コンポーネントを正確にかつ、高い再現性で特性評価できます。詳細は、ウエハーレベル測定ソリューション ‐ Cascade Microtechを参照してください。

WaferPro Expressの主な利点

ターンキーのテストアルゴリズムと測定器ドライバーにより、ソフトウェアの習得時間が短縮され、測定システムのセットアップと最初の測定までの時間を短縮できます。
最新の使いやすいユーザーインタフェースにより、測定器への接続とテストプランの定義が迅速に行えます。さらに効率を向上するために、ソフトウェアには、Cascade Microtech NucleusとWinCal XEソフトウェアが統合され、シームレスなプローブステーション制御と自動RF校正が可能です。
Cascade Microtechの最新制御ソフトウェアVelox 2.0と独自に統合できます。WaferPro ExpressとVelox間の新しいWaferSyncインタフェースにより、ウエハーマップの完全同期とテストプラン実行中のRF校正自動モニタが可能です。
データディスプレイ、ウエハー・マッピング・データ・ビューア、SQLデータベースなどの最先端ツールにより、大量のデータを効率的に処理する必要がある場合の生産性が向上します。さらに、Python/PELプログラミング環境により、テストアルゴリズムや測定データ解析をカスタマイズできます。
WaferPro Expressは、現在、高性能低周波ノイズ・アナライザ(A-LFNA)の公式ソフトウェアプラットフォームです。A-LFNAは高性能ノイズアナライザで、高速かつ正確で再現性の高い雑音指数測定を実現するように設計されています。