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インサーキットテスタ > Medalist i3070 

YHP、HP、アジレントから引き継がれるインサーキットテスタのラインナップをご覧ください。

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How to build a fixture for use with the Keysight Cover-Extend Technology
Cover-Extend Technology is Keysight’s latest limited access solution for in-circuit test. This paper documents the necessary information for a fixture vendor to build a Cover-Extend fixture.

アプリケーション・ノート 2017-12-05

Improving Test Throughput with ASRU Speedup feature on the Medalist i3070 Series 5
Keysight's Medalist i3070 Series 5 comes with a new Analog Stimulus Response Unit (ASRU N) Revision card along with software release 08.00p. The ASRU N card has enhanced ASRU speedup features to reduce unpowered analog test time.

アプリケーション・ノート 2017-12-02

PDF PDF 1.89 MB
Vectorless Test EP (VTEP) Goes Head-to-Head with Keysight TestJet - Case Study
VTEP has proven its abilities to improve in-circuit test coverage by over 80 percent compared to the older TestJet technology, especially on boards with hard-to-test packages such as BGAs, micro-BGAs, and SMT edge connectors.

事例紹介 2017-12-01

PDF PDF 1.64 MB
Test Coverage Consultant - Data Sheet
The Keysight Test Coverage Consultant is a standalone application that can be installed on your Windows® PC to enable you to quickly generate test coverage reports for your products. Keysight Test Coverage Consultant Keysight Medalist i3070 Series 5

データシート 2017-12-01

The Keysight Panel Test and Throughput Multiplier Advantage - Technical Overview
Many have tried to emulate the Keysight Panel Test and Throughput Multiplier capabilities, yet our advantage remains in providing matchless high throughput and low total cost of ownership.

技術概要 2017-07-13

PDF PDF 1.17 MB
i3070 Inline ICT Improves Functional Test Yield of SSDs - Case Study
Find out how one customer reported first pass yield results of more than 95% with less than 0.5% false failures, after installing the i3070 Series 5 Inline ICT systems.

事例紹介 2017-07-10

PDF PDF 610 KB
Medalist i3070 Test Throughput Optimization - Application Note
This application note explores some factors which cause test time to increase on the Medalist i3070 In-Circuit Test system, and methods which users can employ to reduce the test time and increase throughput on the Medalist i3070 ICT system.

アプリケーション・ノート 2017-06-16

BGAやコネクタ腹面の半田浮きをピンポイントに見つけ出す!U9403A フライヤ
BGAやコネクタ腹面の半田浮きをピンポイントに見つけ出す!オープンチェッカー

カタログ 2016-01-08

PDF PDF 590 KB
QFP ICとコネクタを搭載した実装基板でテストカバレッジ100% を実現 フライヤ
QFP ICとコネクタを搭載した実装基板でテストカバレッジ 100% を実現

事例紹介 2016-01-08

PDF PDF 483 KB
非接触テストを実現する、VTEPセンサープレート フライヤ
当社特許技術:非接触テストを実現する、VTEPセンサープレート

技術概要 2016-01-08

PDF PDF 655 KB
アニメーション紹介「バウンダリスキャン・テストの概要」
アニメーション紹介「バウンダリスキャン・テストの概要」

カタログ 2015-04-22

フライヤ「実装基板の不良検査、あなたはどのタイプ?」
フライヤ「実装基板の不良検査、あなたはどのタイプ?」

カタログ 2015-04-22

PDF PDF 632 KB
テスト・カバレージ・コンサルタント
このクイック・ガイドには、ライセンスの取得手順、ソフトウェアのインストール手順、サンプル・ボードのテスト・カバレージ・レポートの作成手順が紹介されており、Keysightテスト・カバレージ・コンサルタントを起動して、PC上ですぐに実行できます。

技術概要 2014-10-22

Intellectual property and copyright protection on Agilent ICT products
This letter advises areas of intellectual property and copyright protection to look out for when customers elect to purchase Agilent in-circuit test products from third party vendors.

特集記事 2014-07-31

PDF PDF 155 KB
Power Supply Connections for Your CET Signal Conditioner Card Application Note
The Cover-Extend Technology signal conditioner card can be powered from various sources. The recommended sources are discussed in this application note.

アプリケーション・ノート 2014-02-25

PDF PDF 435 KB
Keysight Medalist i3070 08.40p Software Release
Keysight Medalist i3070 08.40p software can be installed on testheads and test development stations with Windows 7 (32- bit and 64- bit) and Windows XP operating systems.

リリース・ノート 2014-02-17

Looking to sell or buy used or pre-owned 3070 in circuit testers? Talk to Keysight!
Looking to sell or buy used or pre-owned 3070 in circuit testers? Talk to Keysight!

プロモーション資料 2012-11-07

3070/i3070 DUT Power Supply Document Library
This document library contains the installation manual, programming guide and operating guide/manual of the various models of DUT power supply that are supported on the Keysight 3070/i3070 ICT systems.

ユーザ・マニュアル 2012-01-25

TestJet & VTEP hardware description and verification
This application note describes the TestJet and VTEP hardware components and the required connections for assembly on test fixtures. It also provides instructions for the setup and use of the Fixture Verifier.

アプリケーション・ノート 2010-12-22

Throughput comparison for Medalist i3070 Series 5 and i3070 In-Circuit Test
The new Medalist i3070 Series 5 in-circuit tester has several new features which enable manufacturers to speed up their tests, when compared with using the older i3070 series.

事例紹介 2010-08-11

PDF PDF 175 KB
Programming Micron P8P PCM Flash Using Serial Peripheral Interface (SPI)
The Micron P8P phase change memory has a new serial peripheral interface to enable low cost, low pin count on-board programming using the Keysight Medalist i3070 in-circuit test solution.

アプリケーション・ノート 2010-04-01

PDF PDF 207 KB
Vectorless Test Solutions --An analysis of performance differences between VTEP
This white paper provides an analysis of performance differences between Keysight VTEP, FrameScan FX and TestJet Enhanced technologies.

アプリケーション・ノート 2009-11-03

PDF PDF 214 KB
In-Circuit Test Press Releases

プレス資料 2009-08-07

Overcoming Limited Access with Cover-Extend Technology at In-Circuit Test
This case study illustrates how Keysight's Cover-Extend Technology can help to enable test access for situations where test access becomes increasingly limited with usage of high complexity components on computer motherboards.

事例紹介 2009-07-22

PDF PDF 149 KB
Cover-Extendテクノロジーを備えたVTEP v2.0 Powered

技術概要 2009-06-26

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