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お問い合わせ窓口

原子間力顕微鏡、FE-SEM、薄膜硬度計(ナノインデンター)、UTM

弊社では、長年ご愛顧頂きましたナノテクノロジー製品につきまして、SEM製品及びAFM製品の販売を終了いたしました。また、ナノインデンター製品については、販売・サポートの譲渡をいたしました。各製品について、下記ご案内申し上げます。

お客様には大変ご迷惑をお掛けしますが、ご理解のほどよろしくお願い致します。
ご不明な点等ございましたら、弊社担当営業までお問合せください。

1.SEM製品について
2018年4月1日にて販売完了いたしました。
(製品サポートは、2024年2月末日まで行います。)

2.AFM製品について
2018年5月1日にて販売完了いたしました。
(製品サポートは2023年10月末日まで行います。)

3.ナノインデンター製品について
2018年4月1日付けにて、KLA-TencorCorporationに日本国内における販売・サポ-トを譲渡いたしました。

サポート窓口:
・SEM製品について sem-support@keysight.com (英語でのサポートとなります。)
・AFM製品について afm-support@keysight.com (英語でのサポートとなります。)
・ナノインデンター製品について KLA-Tencor社 https://www.kla-tencor.co.jp/ 

HP/アジレントから受け継がれる原子間力顕微鏡、薄膜硬度計、走査型電子顕微鏡のラインナップをご覧ください。

 研究のリソース

  • Nanoindentation Testing Tools Nanoindentation Testing Tools 

    Nanoindentation Testing Tools

    Nanoindenter technology provides the most advanced and dependable nano- and microscale material analysis available today.

  • AFM - 原子間力顕微鏡 AFM - 原子間力顕微鏡 

    AFM - 原子間力顕微鏡

    さまざまな高精度原子間力顕微鏡(AFM)。 キーサイトの原子間力顕微鏡(AFM)製品は、お客様の研究ニーズに対応するようにデザインされています。

  • 走査型電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡 

    走査型電子顕微鏡

    新しいKeysight 8500B FE-SEMは低電圧高分解能イメージング用に最適化されており、エネルギー分散型分光法(EDS)が統合されています。8500Bは、一貫した再現性の高い性能を提供し、業界で最も安価なメンテナンスコストを実現します。

  • Universal Testing Machine (UTM) Universal Testing Machine (UTM) 

    Universal Testing Machine (UTM)

    The Keysight universal testing machine (UTM) offers researchers a superior means of nanomechanical characterization.