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原子間力顕微鏡、FE-SEM、薄膜硬度計(ナノインデンター)、UTM

HP/アジレントから受け継がれる原子間力顕微鏡、薄膜硬度計、走査型電子顕微鏡のラインナップをご覧ください。

 研究のリソース

  • Nanoindentation Testing Tools Nanoindentation Testing Tools 

    Nanoindentation Testing Tools

    Nanoindenter technology provides the most advanced and dependable nano- and microscale material analysis available today.

  • AFM - 原子間力顕微鏡 AFM - 原子間力顕微鏡 

    AFM - 原子間力顕微鏡

    さまざまな高精度原子間力顕微鏡(AFM)。 キーサイトの原子間力顕微鏡(AFM)製品は、お客様の研究ニーズに対応するようにデザインされています。

  • 走査型電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡 

    走査型電子顕微鏡

    新しいKeysight 8500B FE-SEMは低電圧高分解能イメージング用に最適化されており、エネルギー分散型分光法(EDS)が統合されています。8500Bは、一貫した再現性の高い性能を提供し、業界で最も安価なメンテナンスコストを実現します。

  • Universal Testing Machine (UTM) Universal Testing Machine (UTM) 

    Universal Testing Machine (UTM)

    The Keysight universal testing machine (UTM) offers researchers a superior means of nanomechanical characterization.