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PCI Express® エクセサイザ

DUT(被試験デバイス)のフル検証

  • ルート・コンプレックス/終端ポイントのエミュレーションにより、PCI Express® 2.0対応のあらゆるタイプのDUTをテストできます。
  • プロトコル・エクセサイザで限界条件を作成して、エラーを挿入することにより、極限条件下のDUTを検証できます。
  • プロトコル・エクセサイザとテスト・バックプレーンを使用して、終端ポイントをテストできます。
  • 内蔵APIインタフェースにより、テストを自動化できます。

スルーリンク・テスト

  • 定義済みLTSSMテストでは、複雑で難しいDUTのLTSSMの状態遷移をテストできます。
  • レーン幅のダイナミック変更、リンク・ネゴシエーションなど、2.0仕様での新たな追加項目を容易に検証できます。

PCI Express と PCIeはPCI-SIGの登録商標です。