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1/f Noise Modeling

1/fノイズのモデリング:IC-CAPカスタム・ツール・コンサルティング・サービスの紹介の中の、1/fノイズ測定などの項目をご覧ください

The 1/f noise or Flicker noise is an important noise source generated at low frequencies. Accurate measurement and modeling of 1/f noise for deep sub-micron CMOS, BJT, FET and HBT devices as well as RF passive components are critical to RF circuit designs.

For example, the 1/f noise shows up as phase noise in an oscillator design where it mixes with the oscillation frequency, causing the oscillator to become unstable. A noisy local oscillator (LO)signal can degrade a receiver's useful dynamic range and selectivity, making it difficult to recover a signal buried in the noise.

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