お探しのページはこちらでしょうか.
その他の検索結果:
Toggle Menu
何をお探しですか？
関連キーワード
No product matches found - System Exception
検索結果
半導体デバイスの正確なDC/CV（およびRF）統計モデリングでは、異なるウェーハをさまざまな温度で測定して非常に多くのデータを収集する必要があります。 キーサイト・テクノロジーは、モデリングエンジニアやでデバイスエンジニアがオンウェーハをさまざまな温度に対して効率的に測定できるDC/CVおよびRFのターンキー自動評価ソリューションとして、IC-CAP WaferProを推奨しています。 この新しい画期的なソリューションは、IC-CAPモデリングソフトウェアをベースにしたもので、キーサイトの407x/408xシリーズ パラメトリックテスタに加え、DC/CVアナライザ、ネットワーク・アナライザ、プローバ、スイッチングマトリクス、温度チャックを効率的に制御できます。
イノベーションへの投資を保護
オンウエハー測定に関する注目のリソース
ご要望、ご質問はございませんか。
