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オンウェーハ測定

半導体デバイスの正確なDC/CV(およびRF)統計モデリングでは、異なるウェーハをさまざまな温度で測定して非常に多くのデータを収集する必要があります。Keysight Technologiesは、オンウェーハをさまざまな温度に対して効率的に測定できるDC/CVおよびRFのターンキー自動評価ソリューションとして、IC-CAP WaferProを推奨しています。この新しい画期的なソリューションは、IC-CAPモデリング・ソフトウェアをベースにしたもので、Keysightの407x/408xシリーズ パラメトリック・テスタに加え、DC/CVアナライザ、ネットワーク・アナライザ、プローバ、スイッチング・マトリクス、温度チャックを効率的に制御できます。

詳細情報

  • W8501EP IC-CAPコア環境 W8501EP IC-CAPコア環境 

    W8501EP IC-CAPコア環境

    IC-CAPコア環境は、データ管理、表示、プログラミング(PELを使用)の機能を提供します。MultiPlot & GUI Studio、数学変換、マクロ、SQLデータベースへのリンクなどが含まれています。

  • W8510EP IC-CAPウェーハ・プロフェッショナル測定(WaferPro) W8510EP IC-CAPウェーハ・プロフェッショナル測定(WaferPro) 

    W8510EP IC-CAPウェーハ・プロフェッショナル測定(WaferPro)

    IC-CAPウェーハ・プロフェッショナルのアドオン・ソフトウェアのライセンス

  • W8511BP IC-CAPウェーハ・プロフェッショナル測定バンドル W8511BP IC-CAPウェーハ・プロフェッショナル測定バンドル 

    W8511BP IC-CAPウェーハ・プロフェッショナル測定バンドル

    IC-CAPウェーハ・プロフェッショナル測定バンドル永久ソフトウェアのライセンス

  • W8520EP IC-CAP測定器コネクティビティ W8520EP IC-CAP測定器コネクティビティ 

    W8520EP IC-CAP測定器コネクティビティ

    IC-CAPで、DC、CV、AC、時間、ノイズのすべてのリニア測定器を制御できます。DCアナライザ、CVメータおよびインピーダンス・アナライザ、ネットワーク・アナライザ、オシロスコープ、ダイナミック・シグナル・アナライザなどのドライバ。