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アップタイム・サポートおよびサービス

Keysightのシステム・アップタイム・サポート・サービスにより、投資を最大限に活用し、テスト・コスト全体を削減し、アップタイムを可能な限り拡大することができます。Keysightテスト/検査システムのアップタイム・サポート・サービスの購入方法はいくつかあります。

さまざまな種類のサポート契約の中から、お客様の要件に合うものをお選びいただけます。価格は透明性の高い固定価格なので安心です。また、さまざまな種類のサポートを組み合わせてお客様の要件に合わせたカスタマイズを行うことも可能です。

低価格で安心を手に入れるために、 ニーズに最適なサービスをお選びください。

詳細については、 追加サポート情報をご請求ください。

Keysightの検査事業撤退に関する最新のお知らせについてご質問がある場合は、次のページを参照してください。 www.keysight.com/find/inspection

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i3070 In-Circuit Test System Onsite Agreement - Data Sheet
Keysight's system onsite agreement provides short term rental of the i3070 system, preconfigured according to the customer’s needs, together with the latest hardware and software.

データシート 2019-08-30

PDF PDF 1.24 MB
Keysight Technologies On-Site Now! - Flyer
The new approach provides customers with live support from a Keysight expert consultant, enabling the on-site engineer to do the repairing and preventing any miscommunications that may arise when using mobile phones and Web conferencing.

プロモーション資料 2019-08-27

PDF PDF 387 KB
Reducing Tester Downtime Remotely - Application Note
Improve Expert Consultant on-site response time to resolve problems on manufacturer's production test equipment.

アプリケーション・ノート 2019-06-18

PDF PDF 555 KB
R2021A Connected Support - Data Sheet
Keysight’s Connected Support is a remote and maintenance service powered by the latest wearable smart glasses technology.

データシート 2019-05-28

PDF PDF 583 KB
ICT System Support Delivery Options
Support delivery guidelines for Keysight In-circuit Test Systems.

技術概要 2019-04-16

PDF PDF 272 KB
Keysight System Uptime Support Product Guide
This data sheet describes the level of support provided under each support product number for Keysight's range of support products for in-circuit test, imaging inspection and functional test systems.

データシート 2019-02-20

PDF PDF 1017 KB
Limited Parts Agreement
Keysight understands these difficult challenges that manufacturers face, and has designed the Limited Parts Agreement – a new affordably-priced supportprogram targeting our customers’ special needs.

ブローシャ 2017-12-01

PDF PDF 552 KB
BGAやコネクタ腹面の半田浮きをピンポイントに見つけ出す!U9403A フライヤ
BGAやコネクタ腹面の半田浮きをピンポイントに見つけ出す!オープンチェッカー

カタログ 2016-01-08

PDF PDF 590 KB
QFP ICとコネクタを搭載した実装基板でテストカバレッジ100% を実現 フライヤ
QFP ICとコネクタを搭載した実装基板でテストカバレッジ 100% を実現

事例紹介 2016-01-08

PDF PDF 483 KB
非接触テストを実現する、VTEPセンサープレート フライヤ
当社特許技術:非接触テストを実現する、VTEPセンサープレート

技術概要 2016-01-08

PDF PDF 655 KB
N1125Aバウンダリスキャン・アナライザによるDDR3メモリテスト
N1125Aバウンダリスキャン・アナライザによるDDR3メモリテスト

カタログ 2015-04-22

フライヤ「実装基板の不良検査、あなたはどのタイプ?」
フライヤ「実装基板の不良検査、あなたはどのタイプ?」

カタログ 2015-04-22

PDF PDF 632 KB
N1125Aバウンダリスキャン・アナライザによるIntel SVTソリューション
N1125Aバウンダリスキャン・アナライザによるIntel SVTソリューション

カタログ 2015-04-22

アニメーション紹介「バウンダリスキャン・テストの概要」
アニメーション紹介「バウンダリスキャン・テストの概要」

カタログ 2015-04-22

Risk factors of Utilizing Unauthorized Third-Part Suppliers for In-Circuit Test - Case Study
This paper describes the potential risks customers may have to face by engaging services from unauthorized 3rd party suppliers for 3070 and i3070 products and services.

事例紹介 2015-04-15

PDF PDF 2.02 MB
N1125Aバウンダリスキャン・アナライザによるSSD向け基板テストソリューション
N1125Aバウンダリスキャン・アナライザによるSSD向け基板テストソリューション

カタログ 2015-04-03

PDF PDF 3.83 KB
In-Circuit Test Suite - Brochure
Latest board and functional test solutions to help electronics manufacturers achieve better product quality withmore comprehensive test coverage.

ブローシャ 2015-02-01

PDF PDF 10.42 MB
フライヤ「ピンレベルでの故障解析を可能にし製造コスト/解析コストを削減」
フライヤ「ピンレベルでの故障解析を可能にし製造コスト/解析コストを削減」

カタログ 2014-10-16

PDF PDF 512 KB
Keysight Medalist i3070 In-Circuit Test System Onsite Calibration Service
This flyer explains why calibration is one of the critical factors that will help maintain the accuracy and repeatability of your Medalist i3070 ICT system.

ブローシャ 2014-07-31

PDF PDF 54 KB
Maximize Your Keysight AXI Coverage with Flexible Pricing - Brochure
This flyer describes the different support options Keysight AXI users can select from to ensure peace of mind for covering the support needs of their 5DX and x6000 investments.

ブローシャ 2014-07-31

PDF PDF 141 KB
Return-to-Keysight Agreement for i3070 In-Circuit Test Systems - Brochure
Return to Keysight is a repair service agreement for your Keysight i3070 and 3070 in-circuit test systems to ensure your system uptime is maximized.

ブローシャ 2014-01-15

PDF PDF 2.93 MB
Choose the right system calibration services for your Keysight i3070/3070 In-circuit Test System
Keysight offer a range of new calibration service with and without system calibration license to use for your Keysight i3070/3070 In-circuit Test System

事例紹介 2012-09-28

Refresh your Keysight 3070 In-Circuit Test System with Keysight’s 3-in-1PC Upgrade
The Keysight 3-in-1 PC Upgrade Support Agreement enables customers to replace their legacyAgilent3070 In-Circuit Test Systemtest head controller with the latest PC controller and gain access to the latest Keysight ICT features and capabilities.

ブローシャ 2012-07-25

PDF PDF 242 KB
One Stop Shop In-Circuit Test Support Services - Brochure
Keysight's seamless support helps keep your in-circuit testers running smoothly, so you can focus on delivering quality to your customers,quickly.

ブローシャ 2012-02-16

PDF PDF 694 KB
System Spares Onsite Agreement
This is the data sheet on system spares onsite agreement for uptime support

データシート 2010-11-15

PDF PDF 201 KB

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