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制限付きアクセステストに対する製品群Super 7スイート

YHP、HP、アジレントから引き継がれるインサーキットテスタのラインナップをご覧ください。

CET awards


電子機器のアセンブリでは、複雑なパッケージ、コネクタ、新しい高速デバイスなどが、プリント基板に詰め込まれています。将来に備えるために、インサーキット・テストのニーズを正確に知ることがきわめて重要になっています。KeysightのSuper 7スイートは、高く評価されている制限付きアクセステストの革新的なツールであり、競争力の維持に貢献します

  1. Cover-Extendテクノロジー
  2. ビード・プローブ・テクノロジー
  3. IEEE 1149.1 InterconnectPlusバウンダリ・スキャン
  4. IEEE 1149.6バウンダリ・スキャン
  5. シリコン・ネイル
  6. DriveThru
  7. アクセス・コンサルタント

受賞実績を見る

Cover-Extendは、業界の7つの賞を受賞しています。 これによって、制限付きアクセステストの問題をどのように克服できるかを紹介します。

プリント基板のトレースに小さいビーズを追加するだけで、テストへのアクセスが可能になり、コストを節約できます。 ビード・プローブ・テクノロジーの仕組みを紹介します。

Keysightの過去のTestJetテクノロジーをまだお使いですか? 汎用皁E­­強力なVTEP v2.0 Poweredベクタレス・チE­­ト­EスイートへのアチE­Eグレードをご検討ください、E

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業界最高のインサーキット・テスト・プラットフォームをお探しですか? KeysightのMedalist i3070システムの詳細をご覧ください。

  • Access Consultant Access Consultant 

    Access Consultant

    Software that ties all the different limited-access tools together to let you better manage which strategy suits your needs better

  • Bead Probe Technology Bead Probe Technology 

    Bead Probe Technology

    Increase test access even on high-speed traces and space-constrain PCBAs. Its layout independent nature means that trace-routing is not disrupted with the addition of bead probes unlike how test pads do

  • DriveThru DriveThru 

    DriveThru

    Used in conjunction with VTEP, DriveThru gives the user the ability to test both a device pin and the passive component leading to the device pin with just 1 test point

  • IEEE 1149.1 InterconnectPlusバウンダリ・スキャン  IEEE 1149.1 InterconnectPlusバウンダリ・スキャン  

    IEEE 1149.1 InterconnectPlusバウンダリ・スキャン 

    IEEE 1149.1は、IEEE(Institute of Electrical and Electronics Engineers)が1990年に承認した規格で...

  • IEEE 1149.6バウンダリ・スキャン  IEEE 1149.6バウンダリ・スキャン  

    IEEE 1149.6バウンダリ・スキャン 

    IEEE(Institute of Electrical and Electronics Engineers)は、AC結合信号を対象とするIEEE 1149.6規格を公表しました。

  • シリコン・ネイル シリコン・ネイル 

    シリコン・ネイル

    シリコン・ネイルは、バウンダリ・スキャン対応のデバイスにドライバ/レシーバの役割をさせることで.....

  • N1169A-003 Cover-Extendテクノロジー  N1169A-003 Cover-Extendテクノロジー  

    N1169A-003 Cover-Extendテクノロジー 

    Cover-Extendテクノロジー(CET)は、VTEPとバウンダリ・スキャンを組み合わせたものです。

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