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デジタル・テスト

YHP、HP、アジレントから引き継がれるインサーキットテスタのラインナップをご覧ください。

機能 Medalist 3070 Medalist i5000
ベクタ・アプリケーション・レート 6、12、20 MP 6 MP
ドライブ・レベル電圧 -3~5 V 0~5 V
タイミング設定 あり なし
ドライバ/レシーバ・オフセット あり なし
スルー・レート 25~250 V/μsで調整可能 12 nsの一定の立上がり/立ち下り時間
レシーバのしきい値 2つのしきい値 1つのしきい値
サポートされるベクタレス・テストのタイプ TestJetおよびVTEP TestJetおよびVTEP
接続チェック あり なし

Keysightのインサーキット・テスト・システムは、基本的なロジック回路からカスタム仕様のASICまでのさまざまなデバイスのベクタ・ベースのデジタル・テスト機能を備えています。さらにKeysightのインサーキット・テスト・システム(Medalist 3070およびi5000)は、最先端のデジタル・インサーキット・テスト機能を備え、優れたテスト・カバレージ、確度、再現性、可搬性により、製品の市場投入までの期間を短縮できます。

Keysightのインサーキット・テスト・システムでのデジタル・テストでは、VCL(Vector Control Language)と呼ばれるベクタ・ベースの言語を使用できます。VCLは、構造化プログラミング言語で、個々のデバイスやデジタル・デバイスのクラスタのテストを記述するのに使用できます。ベクタ・ベースのテストでは、一連のベクタをデバイスに印加したり、デバイスの実際の応答と予想される応答を比較します。さらに応答に基づいて、合否判定を行います。

ドライバおよびレシーバの高い確度により、ICTシステムで再現可能なデジタル・テストは、各ドライバのエッジ配置確度が10 ns以内で保証されます。

ICTシステムのアーキテクチャは、リローディング・ピンRAMなしで、最大1280億パターンのベクタ・パターンに対応しています。

デジタル・テスト内のもう1つの要素として、Keysightのセーフガード・インサーキットがあります。デジタル・インサーキット・テスト用のバックドライブ・ソリューションにより、ボード上のアップストリーム・デバイスを保護します。Keysightのセーフガード手法では、ボード・トポロジーの調査とテスト実行中にバックドライブされるアップストリーム・デバイスの決定に基づいて、テストの最大安全バックドライブ時間を設定します。さらに、IPG(In-Circuit Program Generator)では、アップストリーム・デバイスのマルチレベル無効化により、テストを作成します。

Keysightの新しいMedalist i5000インサーキット・テスト・システムが他と異なる重要な点は、高確度なプログラマブル・デジタル・チャネルをピンごとに提供する新しい非マルチプレクサ・ピン・カードにあります。これにより、優れた柔軟性をデジタル・テスト用に提供し、i5000ソフトウェアではフィクスチャ・ビルド・ファイルを迅速に作成して、製品化を最短時間で実現できます。

ベクタ・アプリケーション・レートの点では、i5000では600万パターン/s(6 MP)、3070 ICTシステムでは最大20 MPを提供します。

デジタル・テストに適用される他のICTテスト・テクノロジーには、以下があります:

  • フラッシュ・メモリおよびPLDデバイスに対するプログラム機能
  • バウンダリ・スキャン(シリコン・ネイル・テストやScanWorksバウンダリ・スキャン・ソリューションなど)
  • ダイナミック・テスト・アクセス・スイート:アクセス・コンサルタント、DriveThru、シリコン・ネイル、AwareTest xi、InterconnectPlusバウンダリ・スキャン製品(テスト・プローブ・アクセス制限に起因する問題に対応)

該当する情報はありません。