Medalist i1000 / 3070 インサーキットテスタ 

Keysight Medalist i3070は、テスト・カバレージと信頼性に優れ、高い投資効果を実現する次世代のインサーキット・テスト・システム (ICT) です。

Keysight Medalist i1000インサーキット・テスト（ICT）システムは、低価格のインサーキット・テスト・ソリューションです。低価格フィクスチャ・ソリューションを維持しつつ、デジタル・テスト機能を新たに備えました。

ユーティリティ・カードによる、オンボードLEDの色と輝度の検査

ユーティリティ・ カードをカスタム回路にプラグインするだけで、ファンクション・テストや機能をICT中に追加することができます。i3070 Series 5ユーティリティ・カードを使用すると、高性能なインシステム・フラッシュ・プログラミング（ISP）をご利用になれます。

この新機能を使用すれば、研究開発およびNPIステージで開発されたバウンダリ・スキャン・ソリューションを、製造環境で利用できます。

さまざまな制限付きアクセステストにより、高密度回路デザインに起因するテストの問題を解決できます。

• Max node count: 2560
• Max Parallel Cores count: 20
• Footprint: 1500mm (L) x 600mm(W) x 1950mm(H)
• Max no. of programming channels: 160

フィクスチャ・キットからVTEPなどのベクタレス・テスト製品まで、ICT i3070フィクスチャの付属品を表示します。製品や部品を簡単に選択して、クイック見積もりを簡単に請求できます。

• Keysight system rentals uses the latest i3070 hardware and software
• Keysight i3070 software features with license-to-use can be made available
• Total peace of mind for with Keysight uptime support service

• 4個のTAP、22.5 MHz
   
• Cover-Extendテクノロジー：スキャンできないコンポーネントの高速なテスト・カバレージ
   
• インシステム・プログラミング

Vectorless test solution with miniaturized amplifier to help improve test coverage.

現地での専門的なアップタイム・サポートおよびエンドツーエンド・サービスにより、実環境の製造課題に対処できます。

• キーサイトが提供する自動インラインICTソリューションは以下を実現します。
• 最小の占有面積による製造の省スペース化
• 高い安定性／耐久性による最高の製造アップタイムの実現
• 最高のテスト速度による最高の効率の実現
• 最適なサポートによるシームレスな統合