这是您想要的页面. 查看搜索结果:

特点

  • 通过对硅晶圆进行从直流到高速脉冲 IV 的全面测试，精确、快速地表征自旋转移力矩磁阻随机存取存储器（STT-MRAM）等新型存储器
  • 向 STT-MRAM 的磁性隧道结（MTJ）输入准确而高速的脉冲电压（最小 1 ns 脉冲），从而精确测量磁性隧道结的电阻
  • 使用单一存储器测试解决方案执行所有典型的 MTJ 表征测试
  • 比特误码率测试（BERT）等循环测试速度加快 10 至 100 倍
  • 在写入脉冲时，捕获并清晰显示 MTJ 开关波形
  • 采用是德科技专业技术打造的专用 1 ns IV 存储器测试解决方案
附件包括：
  • 系统机柜
  • PIV 驱动器单元
  • PIV 接收机单元

主要技术指标

下载技术指标/下載技術規格
最大 SPGU 输出通道数
不适用
最大测量引脚数
2
最小电流测量分辨率
1 pA
最小电压测量分辨率
不适用
Parallel Parametric Test Capability
否
最大 SPGU 输出通道数
最大测量引脚数
最小电流测量分辨率
最小电压测量分辨率
Parallel Parametric Test Capability
不适用
2
1 pA
不适用
否
查看更多
其他特性:
Narrow Pulsed IV
外观因素 :
n/a
最大测量引脚数:
2
最大 SPGU 输出通道数:
不适用
最小电流测量分辨率:
1 pA
最小电压测量分辨率:
不适用
Parallel Parametric Test Capability:
否
脉冲电压量程:
-2 V to +2 V
脉宽范围:
1 ns to 2 s
类型:
Parametric Test Solution
高吞吐量 1 ns 脉冲 IV 存储器测试解决方案

想要深入了解 NX5730A？

扩展高吞吐量 1 ns 脉冲 IV 存储器测试解决方案的功能

软件
查看所有软件
附件
查看所有附件
服务
查看所有服务
支持
查看所有支持

需要帮助或遇到问题？

联系我们