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光信号の偏波特性の解析機能は、今日の研究開発ラボや製造フロアで不可欠な機能です。Keysight N778x偏波解析／制御シリーズは、光コンポーネント／サブシステムの性能評価／検証のための高速光測定器です。

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光偏波ソリューション

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N7781C
Keysight N7781Cは光信号の偏波特性を解析するコンパクトな高速アナライザです。 ポアンカレ球上（ストークスパラメータ）の偏波状態(SOP)の表示を含みます。 
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Keysight N7781Cは光信号の偏波特性を解析するコンパクトな高速アナライザです ポアンカレ球上（ストークスパラメータ）の偏波状態(SOP)の表示を含みます。
N7785C
The Keysight Technologies N7785C is a high-speed synchronous scrambler that can repeatably switch through a series of states of polarization (SOP) with both input and output triggering functions. 
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The Keysight Technologies N7785C is a high-speed synchronous scrambler that can repeatably switch through a series of states of polarization (SOP) with both input and output triggering functions.
N7786C
The Keysight N7786C is a high-speed lithium-niobate based polarization controller with built-in polarimeter for monitoring and feedback to set and stabilize sequences of chosen output polarization states. 
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The Keysight N7786C is a high-speed lithium-niobate based polarization controller with built-in polarimeter for monitoring and feedback to set and stabilize sequences of chosen output polarization states.
N7788C
N7788Cはポラリメータと偏波コントローラを組み合わせることで、柔軟にラボが利用でき、またキーサイトの波長可変レーザー光源のシングル掃引アルゴリズムを用いて光コンポーネントやファイバの迅速なスペクトルDGD/PMDおよびPDL測定が可能になります。 
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N7788Cはポラリメータと偏波コントローラを組み合わせることで、柔軟にラボが利用でき、またキーサイトの波長可変レーザー光源のシングル掃引アルゴリズムを用いて光コンポーネントやファイバの迅速なスペクトルDGD/PMDおよびPDL測定が可能になります。
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Featured Resources for the 光偏波ソリューション

Data Sheets 2019.11.18

N7786B Polarization Synthesizer

N7786B Polarization Synthesizer

This data sheet describes the N7786B Polarization Synthesizer. The N7786B contains a high-speed Lithium-Niobate based polarization controller and a polarization analyzer plus a microcontroller-based driving circuitry.

2019.11.18

ブローシャー 2017.01.24

光測定ソリューション

光測定ソリューション

第1巻：PL3EおよびROのアプリケーションと製品を含む一般的なフォトニックテストカタログには、次世代の低コスト光学デバイスのフォトニックテストのためのキーサイトの現在のソリューションに関する詳細な製品とアプリケーション情報が記載されています。 高速デバイス用のデジタルマイクロ波ソリューション（BERT、DCA）。 このカタログは、次世代フォトニクスの市場投入までの時間を短縮し、コストの削減と統合の強化を通じて効率的なネットワークメンテナンスを実現する、業界をリードするパフォーマンスを提供するフォトニックおよびトランシーバー測定ソリューションを網羅しています。 これは、市場のライフサイクルの早い段階で競争力のある価格で提供される革新的な光通信テストソリューションへの取り組みを示しています。

2017.01.24

Application Notes 2021.11.28

Wafer and Chip-Level Optical Test

Wafer and Chip-Level Optical Test

See how the N7700 Lambda Scan test system supports integrated photonics with polarization alignment for optical testing of wafers and chips.

2021.11.28

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