Prüfung von Hochimpedanzknoten mit einem verbesserten Kurztest-Algorithmus
Die Prüfung von Leiterplatten (PCBAs) auf elektrische Kurzschlüsse erfordert die Messung des Widerstands zwischen isolierten Knotenpunkten. Bei dieser Methode wird ein kleiner Strom durch die Schaltung geleitet und die daraus resultierende Impedanz zwischen den Knotenpunkten geprüft. Für die Kurzschlussprüfung von Knoten mit hoher Impedanz ist jedoch eine viel präzisere Messmethode erforderlich, um auch kleinste Impedanzänderungen zu erkennen.
Die Kurzprüfung von Hochimpedanzknoten erfordert eine längere Zeit zur Stabilisierung der Spannung oder des Stroms für eine genaue Messung. Aufgrund der erhöhten Empfindlichkeit des Knotens sind die Aufrechterhaltung der Signalstabilität und die Minimierung externer Einflüsse entscheidende Aspekte des Prüfprozesses. Die verlängerte kurze Prüfdauer für Hochimpedanzknoten ist nicht mit der Großserienfertigung vereinbar.
Verbesserte Kurztestlösung
Die Prüfung von hochohmigen Knoten auf einen elektrischen Kurzschluss erfordert eine längere Zeit, um die Spannung oder den Strom für eine genaue Messung zu stabilisieren. Das Keysight i3070 High-Density In-Circuit Test (ICT) System verfügt über einen verbesserten Algorithmus für die Kurzschlussprüfung, der die Prüfzeit erheblich verkürzt. Ein effizienterer Testzyklus wird erreicht, indem die Anzahl der zur Identifizierung von Kurzschlüssen in den hochohmigen Knotenpunkten erforderlichen Iterationen erheblich reduziert wird. Dieser Fortschritt verkürzt die Prüfzeit, ohne die Integrität der Prüfung zu beeinträchtigen. Dieser verbesserte Prüfalgorithmus besteht aus zwei Phasen - der Erkennungs- und der Isolierungsphase. Der neue Algorithmus verbesserte den Durchsatz bei Labortests um 30 bis 50 %.
Beschleunigung von Kurztests für hochohmige Knotenpunkte
E9988GL In-Line-High-Density-ICT-System; Serie 7i
Das Keysight i3070 Serie 7i Inline High-Density In-Circuit Test (ICT) System E9988GL bringt ICT-Technologien in Ihre automatisierte Fertigungslinie, spart Ressourcen und optimiert Ihre automatisierte Teststrategie.
