Durchführung von Schwachstrommessungen auf PCBAs

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Integration einer Quellenmesseinheit in den In-Circuit-Tester

Die Durchführung von Schwachstrommessungen an Leiterplatten (PCBAs) erfordert ein präzises Schwachstrommessgerät, wie z. B. ein Digitalmultimeter (DMM) oder eine Quellenmesseinheit (SMU). Diese Geräte müssen gleichzeitig Spannung und Strom mit hoher Auflösung und effektiver Rauschfilterung messen. Für die Durchführung von Tests mit geringen Ableitströmen während der In-Circuit-Testphase ist die Integration einer SMU in den In-Circuit-Tester (ICT) jedoch unerlässlich, um eine höhere Präzision zu erreichen.

Die Integration einer SMU in die IKT erfordert die Einrichtung einer Schnittstelle und den Anschluss des Testers an die spezifischen Knotenpunkte des zu prüfenden Geräts. Die Konfiguration der SMU umfasst daher die Einstellung der Ausgangsspannung, der Stromparameter und des gewünschten Messbereichs. Testingenieure benötigen außerdem Testpläne sowohl für die Hardware- als auch für die Software-Testautomatisierung. Die Erstellung eines neuen Prüfplans für jede Art von Leiterplatte gewährleistet eine genaue Prüfung.

ICT Niederstrom-Testlösung

ICT Niederstrom-Testlösung

Die Schwachstrommessung in einem ICT-System erfordert die Integration einer Quellenmesseinheit. Das Keysight ICT-Niederstrom-Testsystem vereinfacht diesen Prozess mit dem OpenTap-Plugin und der zweikanaligen Keysight B2912B Präzisionsquelle/Messeinheit. Das OpenTap-Plugin automatisiert die Testerstellung in vier Schritten unter Verwendung der bereitgestellten Kartendatei und Parameter, verwaltet alle erforderlichen Berechnungen und zeigt die Ergebnisse direkt an. Die Integration der SMU über den ICT-Tester reduziert die manuelle Eingabe und steigert die Effizienz. Der Keysight i3070 7i beinhaltet diese Fortschritte und bietet eine rationalisierte und flexible Lösung für Niederstromtests.
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