物联网设备提供了极大的便利,因此迅速进入了我们的日常生活。 然而,在狭小的空间里充斥大量设备会让产品的设计、测试、性能和安全性变得更为复杂。

为了确保物联网设备的可靠性和安全性,设计工程师和物联网设备制造商需要解决设备设计和测试方面的难题。 他们需要在整个物联网设备生命周期中应对五个“C”挑战——连通性、连续性、合规性、共存性和网络安全。 是德科技可以帮助您构建强大、灵活的物联网设备。

 

信号完整性和电源完整性测试

小功率、高度集成的混合信号 IC 特别容易受到串扰的影响。 同样,小功率配电网的电源容限通常低得多,导致时钟和数字数据更容易受到电源上的纹波、噪声和瞬态的影响。

测试信号完整性和电源完整性问题对于打造成功、可靠的物联网设计至关重要。 要想减少电路板的设计迭代次数,将产品更快推向市场,开发人员不仅需要在时域和频域进行物理层测量,还要使用功能全面的分析软件。

是德科技的信号完整性和电源完整性仿真和测量工具非常适合测试各种主流数字设计和互连标准,包括移动行业处理器接口(MIPI)和双倍数据速率(DDR)标准。

合规性测试

物联网芯片、模块和设备的上市竞赛将测试实验室推到了能力极限。 是德科技的监管测试解决方案可以加速对免许可频段内运行的无线设备进行认证。

通过为实验室配备这个解决方案,您将能够应对不断演进的监管标准,满足上市时间要求。 您可以借助专门开发的测试软件来简化合规性测试流程,还可以通过灵活、可扩展和可配置的解决方案更契合地满足测试需求。

设计和仿真工具

混合信号集成电路(IC)技术的进步一直是推动物联网设备发展的重要动力;目前,使用印刷电路板天线、多重天线和多重无线器件的设备在日益增加。 更高的集成度使得设备的成本和能耗更低,而性能进一步提升。

随着复杂性的增加,这些设备的电气、热和机械特性需要接受全面评测。 是德科技的设计和仿真工具能够支持从元器件到系统级跨领域、跨技术、准确无缝的协同仿真流程。

物联网教育中心:设备测试

按照预期的性能和电池续航要求来设计物联网设备并非易事。 这不仅仅需要您敏锐地认识将要面临的挑战,以及选择适当的解决方案, 您还需要了解如何利用这些解决方案来解决难题,以及需要遵循的最佳测量技巧和实践。

物联网教育中心可为您提供关于物联网网络和系统测试的最新教育资源。 下载宝贵的“示范”资料,了解在开发物联网设备时如何减少电路板设计迭代次数、在真实环境中进行全面测试,从而将产品及时推向市场,赢得竞争。

是德科技物联网教育中心助您实现当今物联网的愿景。

加速物联网设备测试

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