HIGHLIGHTS

全自动的晶圆级和芯片级集成光电测试解决方案

在 TAP 测试序列中轻松集成晶圆探针台控制程序

  • 测试步骤可对光电探头进行定位和对准
  • 支持阵列/单光纤探头、边缘和表面耦合、射频/直流探头以及灵活的探头方向(东/西/南/北)
  • 自动器件步进和探针台状态控制
  • 测量测试计划和器件数据管理(导入/导出/编辑器件坐标、器件元参数和测试条件)

支持的晶圆探针台

KS8150A DMM Instrument PluginKeysight PathWave 测试自动化平台(TAP)是一款基于 Microsoft .NET 的现代化应用软件,既可以独立使用,也可以与更高级的测试执行软件环境结合使用。仪器插件所提供的测试步骤可以添加到工作流程序列中,并且无需使用仪器级的编程命令。N7700210C 晶圆探针台插件能够控制与 Formfactor 半自动探针台硬件以及 Formfactor Velox 和硅光工具软件的接口,使自动化测试变得更简单。在一个测试计划中,测试步骤可以完成晶圆卡盘移动以及探头定位和对准等任务,并且可与仪器测试执行步骤结合使用。测试步骤中还包括对晶圆探针台定位设置、射频探头和光探头的简单配置。

Keysight-wafer-prober-sample-test-plan-with-prober-steps

是德科技的晶圆探针台样本测试计划及探针台步骤
 

List-of-device-elements-and-example-of-element-optical-IO-port-characteristics

器件元件列表和元件光通信 IO 端口特征示例
 

详细了解 PathWave 测试自动化平台集成光电测试

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