Kennen Sie diese Herausforderungen bei digitalen Prüfungen?

  • Prüfkomplexität und Prüfzeiten beeinträchtigen die Markteinführung
  • Steigende Kosten für Hochgeschwindigkeits-Prüfmittel, Einrichtung und Expertise
  • Höhere Risiken bei Prüfgenauigkeiten durch die Entwicklung von Technologien und Standards
  • Geringeres Budget und technische Ressourcen

Einzigartige Möglichkeiten und Experten in Santa Clara, Kalifornien

  • Echtzeit-Oszilloskope bis zu 63 GHz
  • Optische Oszilloskope zur Probenahme bis zu 65 GHz
  • Elektrische Oszilloskope zur Probenahme bis zu 110 GHz
  • Protokollbasierte Empfängerprüfung, Verbindungsschulung und Verbindungsausgleich bis zu 16 GB/s
  • Generierung von Belastungsmustern in NRZ und PAM-4-Modulationsformate bis zu 64 Gbaud
  • Bitfehlerratenprüfung in NRZ und PAM-4-Modulationsformate bis zu 64 Gbaud
  • Generierung arbiträrer Wellen bis zu 65 GSa/s

Standardbasierte Prüfung – Muster

  • Display Port
  • Ethernet (1G/10G/100G/400G)
  • Fiber Channel (bis zu 32 GFC)
  • HDMI
  • MIPI (D-PHY/C-PHY/M-PHY)
  • PCIe
  • SAS
  • SATA
  • Thunderbolt
  • Type-C (nicht für die Stromzufuhr)
  • UFS
  • USB

Parameterprüfung – Muster

  • Parameteranalyse wird für optische und elektrische Signale in NRZ und PAM-4-Modulationsformat unterstützt
  • Jitter-Analyse und -Dekomposition
  • Signalparameter im Zeit- und Frequenzbereich
  • Sicht-, Margen- und Maskenprüfung
  • Bit- (BER), Symbol- (SER) und Rahmenfehlerrate (FER)
  • Ausgabedauer (Badewannen-Effekt)
  • Extinktionsverhältnis und Optische Modulationsamplitude (OMA)
  • TDEC und TDECQ

Benutzerdefinierte Prüfung – Muster

  • Frühe Entwicklung von Technologieprüfungen
  • Prüfskript- und Automatisierungsentwicklung
  • Benutzerdefinierte Algorithmen und die Wissenschaft des Messens
  • Nicht standardisierte Schnittstellen
  • Benutzerdefinierte Berichterstellung und Datenanalyse

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