Como aumentar o rendimento da produção de amplificadores de potência de RF

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Redução do tempo de teste do amplificador de potência de RF com técnicas de processamento de sinal

O teste de amplificadores de potência (PA) em um ambiente de fabricação exige que os fabricantes abordem questões críticas: velocidade, repetibilidade, custo, capacidade de manutenção e capacidade de atualização. O acréscimo de tecnologias emergentes, como rastreamento de envelope e pré-distorção digital em PAs, fez com que os fabricantes acrescentassem configurações de teste adicionais para testar a eficiência e a linearidade da potência do PA. A redução do tempo total de teste exige que os fabricantes empreguem o processamento rápido do servo loop de potência e técnicas de processamento rápido de sinais. Nas medições de alta velocidade da potência e da relação de potência do canal adjacente (ACPR), o engenheiro de teste define o nível de potência de entrada de RF para o dispositivo em teste, compara-o com a saída de RF e ajusta o nível de entrada até atingir o nível de potência de saída correto.

Ao usar um transceptor vetorial PXIe com um FPGA (field-programmable gate array) integrado e uma rotina servo pré-programada, o engenheiro pode economizar tempo realizando iterações rápidas de forma programática. Nas técnicas de processamento rápido de sinais, o engenheiro otimiza o comprimento da forma de onda cortando-a para que seja um pouco maior do que o tempo de aquisição da potência de medição e medindo constantemente no mesmo ponto da forma de onda para minimizar o tempo de espera para a aquisição subsequente.

Produção de amplificadores de potência VNA PXIe

Solução de teste de fabricação de amplificadores de potência de RF

A redução do tempo total de teste de PA de RF requer um loop servo de potência integrado e transformadas rápidas de Fourier (FFTs) em tempo real na configuração do transceptor. O transceptor vetorial VXT PXIe da Keysight combina um gerador de sinais vetoriais de 12 GHz e um analisador de sinais vetoriais em um módulo PXIe de dois slots, suportando testes 5G com uma largura de banda de sinal de 1,2 GHz. A rotina servo integrada aumenta o rendimento em testes de fabricação de componentes sem fio e dispositivos IoT.
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