Como realizar testes de interferência eletromagnética (EMI)

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Realização de testes de EMI em tempo real usando o método de varredura no domínio do tempo

O teste de conformidade de interferência eletromagnética (EMI) de dispositivos eletrônicos requer medições de emissão irradiada (RE) e emissão conduzida (CE) geradas pelo equipamento sob teste (EUT) em operação normal. Os engenheiros devem realizar medições para detectar e analisar sinais de perturbação intermitentes durante longos períodos de permanência em cada frequência, conforme especificado pelos padrões de teste de EMI. Use a varredura no domínio do tempo (TDS) e a varredura em tempo real (RTS), com largura de banda de análise de transformada rápida de Fourier (FFT) altamente sobreposta de até 350 MHz, para capturar e medir sinais de impulso sem intervalos com precisão.

Para detectar sinais de interferência de EMI no EUT, use um receptor de EMI com hardware de FI digital de banda larga e varredura de domínio de tempo de banda larga para aumentar a largura de banda de captura de dados para até 350 MHz em um único segmento. Faça a varredura dos sinais de entrada continuamente, definindo o número de espera e o máximo de espera dos sinais incumbentes para exibir todos os eventos e detalhes de todos os sinais detectados. Use o software de medição de EMI para visualizar os valores de pico e os traços em cascata.

Solução de pré-conformidade e teste de conformidade EMI

Solução de pré-conformidade e teste de conformidade EMI

Os testes de pré-conformidade e conformidade EMI exigem a medição, detecção e análise de sinais de distúrbios intermitentes. A solução de teste de EMI da Keysight inclui um analisador de sinais da Keysight, um receptor de EMI e um software de análise de EMI para ajudar a confirmar o desempenho do produto e a conformidade com os padrões de EMC do respectivo órgão regulador, como o CISPR 16-1-1 e o MIL-STD-461. As soluções de teste de pré-conformidade e conformidade EMI da Keysight são equipadas com varredura em tempo real (RTSC) e varredura acelerada no domínio do tempo (A-TDS), que permitem aos engenheiros solucionar rapidamente problemas e identificar distúrbios suspeitos. 
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