Habilite os cookies do navegador para ter mais recursos e melhor performance no site.
Here's the page we think you wanted. See search results instead:
Keysight Technologies
Toggle Menu
Chat ao vivo
Entre em contato conosco
Welcome

Bem-vindo

  • Meu Perfil
  • Sair
  • Entrar
  • Registre-se
Cotação
  • Sua Cotação Rápida está vazia
  • Solicitar Cotação
  • Como Comprar
Brasil

Confirme o seu país ou área

Brasil

  • 中国
  • 日本
  • 繁體中文
  • 한국
  • Россия
  • Brasil
  • Canada
  • Deutschland
  • France
  • India
  • Malaysia
  • United Kingdom
  • United States
  • Australia
  • Austria
  • Belgium
  • Denmark
  • Finland
  • Hong Kong, China
  • Ireland
  • Israel
  • Italy
  • Mexico
  • Netherlands
  • Singapore
  • Spain
  • Sweden
  • Switzerland (German)
  • Thailand
  • mais...

Por Favor, Confirme

Confirme o seu país para ter acesso a informações sobre preços aplicáveis, ofertas especiais, eventos e contatos.

  • Produtos + Serviços
    • Osciloscópios + Analisadores
      • Osciloscópios
      • Analisadores de espectro (Analisadores de sinais)
      • Analisadores de Rede
      • Analisador Lógico
      • Protocol Analyzers and Exercisers
      • Testadores de taxa de erro de bit (BERT)
      • Analisadores de Figura de Ruído e Fontes de Ruído
      • High-Speed Digitizers and Multichannel Data Acquisition Solutions
      • Analisadores de Potência AC
      • Analisadores de potência CC
      • Materials Test Equipment
      • Device Current Waveform Analyzers
      • Analisadores de Parâmetros e Dispositivos, Traçadores de Curvas
    • Medidores
      • Multímetros Digitais (DMM)
      • Phase Noise Measurement
      • Medidor e Sensor de Potência
      • 53200 Series RF and Universal Frequency Counter / Timers
      • Medidores de LCR + medidores de impedância
      • B2980 Series Femto / Picoammeter and Electrometer Meters
    • Geradores, Fontes + Potência
      • Signal Generators (Signal Sources)
      • Geradores de forma de onda e de função
      • Geradores de forma de onda arbitrária
      • Pulse Generator Products
      • HEV/EV/Grid Emulators and Test Systems
      • Fontes de alimentação CC
      • Source Measure Units
      • DC Electronic Loads
      • AC Power Sources
    • Software
      • Application Software Testing
      • PathWave Design Software
      • Software de Teste PathWave
      • Application Software
      • Software de Produtividade
      • Software Enterprise Agreement
      • Todos os Projetos + Software de teste  
    • Wireless
      • Emuladores de Rede Sem Fio
      • Channel Emulators
      • Solução de rede sem fio Nemo
      • 5G OTA Chambers
      • Wireless Analyzers
      • Soluções em conformidade regulatória para IoT
    • Instrumentos Modulares
      • Produtos PXI
      • Produtos AXIe
      • Aquisição de dados – DAQ
      • Produtos USB
      • Produtos VXI
      • Soluções de Referência
      • All Modular Instruments  
    • Teste de rede
      • Protocol and Load Test
      • Hardware de teste de rede
      • Cloud Test
      • Performance Monitoring
      • Teste de estações de base 5G NR
      • Radio Access and Core Network Test
      • Network Modeling
      • All Network Test  
    • Segurança da Rede + Visibilidade
      • Network Packet Brokers
      • Cloud Visibility
      • Taps de rede
      • Bypass Switches
      • Segurança da Rede
      • Application and Threat Intelligence
    • Produtos Adicionais
      • Sistemas de teste em circuitos - 3070 ICT
      • Sistemas e componentes de teste com aplicações específicas
      • Soluções de Teste Paramétrico
      • Soluções de Medição Fotônica & Lightwave
      • Frequência, Tempo, Distância, Grandezas Físicas
      • Monolithic Laser Combiners & Precision Optics
      • Dispositivos para ondas milimétricas e microondas
    • Serviços
      • Serviço e suporte do KeysightCare
      • KeysightAccess Service
      • Serviços de calibração
      • Repair Services
      • Technology Refresh Services
      • Test as a Service (TaaS)
      • Network/Security Services
      • Consulting Services
      • Financial Services
      • Serviços de Treinamento
      • Keysight Support Portal
      • Used Equipment
      • Todos os Serviços  
    • Todos os produtos, softwares e serviços  
  • Soluções
    • 5G
    • Nuvem
    • Veículo Conectado
    • Infraestrutura de Data Center
    • Projeto + Automação
    • Tecnologias Emergentes
    • Ecossistema de Energia
    • Design de sistema digital de alta velocidade
    • Internet das Coisas
    • Teste de fabricação
    • Fundamentos de Medição
    • Segurança da Rede
    • Teste de rede
    • Visibilidade de rede
    • SDN, NFV, Virtualização
    • Automação de Testes de Software
    • Todas as soluções  
  • Indústrias
    • Aeroespacial + Defesa
    • Automotivo + Energia
    • Comunicações
    • Educação
    • Empresarial
    • Governo
    • Semicondutores
    • Provedores de Serviço
    • Todas as indústrias + tecnologias  
  • Insights
    • Descubra Insights
    • Histórias de sucesso
    • Blog
    • Keysight University
  • Recursos
  • Suporte
    • Suporte para produtos Keysight
    • Suporte para produtos Ixia
No product matches found - System Exception
Spectrum and Signal Analyzer Measurements and Noise
Application Notes

Spectrum and Signal Analyzer Measurements and Noise

Show Description

Measuring Noise and Noise-Like Digital Communications Signals with Spectrum and Signal Analyzers 

Introduction 

Noise. It is the classical limitation of electronics. In measurements, noise and distortion limit the dynamic range of test results. 

In this four-part paper, the characteristics of noise and its direct measurement are discussed in Part I. Part II contains a discussion of the measurement of noise-like signals exemplified by digital CDMA and TDMA signals. Part III discusses using averaging techniques to reduce noise. Part IV is about compensating for the noise in instrumentation while measuring CW (sinusoidal) and noise-like signals.

Table of contents

Part I: Noise Measurements  

  • Simple noise—Baseband, Real, Gaussian  
  • Bandpassed noise—I and Q  
  • Measuring the power of noise with an envelope detector  
  • Logarithmic processing  
  • Equivalent noise bandwidth 
  • Cautions when measuring noise with spectrum and signal analyzers  

Part II: Measurements of Noise-like Signals  

  • The noise-like nature of digital signals  
  • Channel-power measurements   
  • Adjacent-Channel Power (ACP) 
  • Carrier power  
  • Peak-detected noise and TDMA ACP measurements  
  • Peak-detected noise in continuous and sampled measurements  

Part III: Averaging and the Noisiness of Noise Measurements 

  • Averaging a number of computed results  
  • Swept versus FFT analysis  
  • Zero span  
  • Averaging with an average detector 
  • Measuring the power of noise with a power envelope scale   
  • The standard deviation of CW measurements  

Part IV: Compensation for Instrumentation Noise  

  • CW signals and log versus power detection 
  • To compensate S+N measurements on a log scale   
  • Power-detection measurements and noise subtraction  
  • Noise Floor Extension (NFE) for noise compensation   
  • Log scale ideal for CW measurements 

Carrier power 

Burst carriers, such as those used in TDMA mobile stations, are measured differently than continuous carriers. The power of the transmitter during the time it is on is called the "carrier power." 

Carrier power is measured with the spectrum analyzer in zero span. In this mode, the LO of the analyzer does not sweep, thus the span swept is zero. The display then shows amplitude normally on the y axis, and time on the x-axis. If we set the RBW large compared to the bandwidth of the burst signal, then all of the display points include all of the power in the channel. The carrier power is computed simply by averaging the power of all the display points that represent the times when the burst is on. Depending on the modulation type, this is often considered to be any point within 20 dB of the highest registered amplitude. (A trigger and gated spectrum analysis may be used if the carrier power is to be measured over a specified portion of a burst-RF signal.) 

Using a wide RBW for the carrier-power measurement means that the signal will not have noise-like statistics. It will not have CW-like statistics, either, so it is still wise to set the VBW as wide as possible. But let’s consider some examples to see if the sample-mode bandwidths of spectrum analyzers are a problem.

Zero span 

A zero-span measurement of carrier power is made with a wide RBW, so the independence of data points is determined by the symbol rate of the digital modulation. Data points spaced by a time greater than the symbol rate will be almost completely independent. 

Zero span is sometimes used for other noise and noise-like measurements where the noise bandwidth is much greater than the RBW, such as in the measurement of power spectral density. For example, some companies specify IS-95 CDMA ACPR measurements that are spot-frequency power spectral density specifications; zero span can be used to speed this kind of measurement

Noise Floor Extension (NFE) for noise compensation 

A very convenient form of noise compensation is now built-in to some advanced spectrum analyzers: NFE. It goes beyond the power subtraction we just discussed. 

NFE creates a model of the noise of the spectrum analyzer as a function of its state. This model works for all RBWs, all attenuation settings, all paths (such as preamp on and off), even all detectors (such as peak and average), and VBW settings. The user does not need to characterize his analyzer before turning NFE on, because the models are already in the analyzer. 

NFE is most effective with noise-like signals, but it also works on CW and impulsive signals. It greatly reduces the errors caused by noise, replacing them with a smaller uncertainty. See the reference “Using Noise Floor Extension in the PXA Signal Analyzer” for more information on this topic. 

NFE can often allow the user to see signals below the theoretical noise floor of a room-temperature termination impedance. See the reference for discussion on that topic, too.

Alterar e-mail? Este campo é obrigatório

Este campo é obrigatório

Este campo é obrigatório

Este campo é obrigatório

Este campo é obrigatório

Este campo é obrigatório

Este campo é obrigatório

Este campo é obrigatório

Este campo é obrigatório

Este campo é obrigatório

Este campo é obrigatório

Este campo é obrigatório

Este campo é obrigatório

Este campo é obrigatório

Este campo é obrigatório

Clicando no botão, você fornece suas informações pessoais para a Keysight. Para saber como utilizamos essas informações, consulte a Declaração de Privacidade da Keysight.

Obrigado!
Download

Explore

  • Produtos + Serviços
  • Soluções
  • Indústrias
  • Eventos
  • Keysight University

Insights

  • Discover Insights
  • Histórias de sucesso
  • Recursos
  • Blog
  • Comunidade

Parceiros

Suporte

  • Suporte para produtos Keysight
  • Suporte para produtos Ixia
  • Gerenciar licenças de software
  • Status do pedido de produto
  • Partes e Peças

Sobre a Keysight

  • Novidades
  • Relações com investidores
  • Responsabilidade social corporativa
  • Diversidade, Equidade e Inclusão
  • Transparência da Cadeia de Suprimentos
  • Vagas

  • Facebook: conecte-se à Keysight LinkedIn: conecte-se à Keysight Twitter: conecte-se à Keysight YouTube: conecte-se à Keysight WeChat:conecte-se à Keysight
  • © Keysight Technologies 2000–2022
  • Privacidade
  • Termos
  • Contate o Webmaster