Choose a country or area to see content specific to your location

    Aktivieren Sie Browser-Cookies, damit Sie die Funktionen der Webseite optimal nutzen können.
    Keysight Technologies
    Toggle Menu
    Chat Live
    Contact Us
    Login Welcome Login

    Willkommen

    • Mein Profil
    • Abmelden
    • Anmeldung
    • Registrieren
    Quote
    Österreich

    Bestätigen Sie Ihr Land oder Gebiet

    Österreich

    • 中国
    • 日本
    • 繁體中文
    • 한국
    • Brasil
    • Canada
    • Deutschland
    • France
    • India
    • Malaysia
    • United Kingdom
    • United States
    • Australia
    • Austria
    • Belgium
    • Denmark
    • Finland
    • Hong Kong, China
    • Ireland
    • Israel
    • Italy
    • Mexico
    • Netherlands
    • Singapore
    • Spain
    • Sweden
    • Switzerland (German)
    • Thailand
    • Mehr...

    Bitte bestätigen

    Bestätigen Sie Ihr Land, damit Sie die für Sie zutreffenden Informationen über Preise, Sonderangebote, Veranstaltungen und Kontaktdaten erhalten.

    • PRODUKTE UND DIENSTLEISTUNGEN
      • Oszilloskope Oszilloskope
        • Echtzeitoszilloskope - Allgemeine Anwendungen
        • Real-Time Oscilloscopes — Compliance
        • Equivalent-Time Sampling Oscilloscopes
        • Handheld, Modular, and USB Oscilloscopes
        • Oscilloscope Software
        • Oszilloskop - Tastköpfe
        • Alle Oszilloskope  
      • Analysatoren Analysatoren
        • Spectrum Analyzers (Signal Analyzers)
        • Network Analyzers
        • Logik-Analysatoren
        • Protokoll-Analysatoren und Prüfgeräte
        • Bitfehlerraten-Tester
        • Rauschzahl-Analysatoren und Rauschquellen
        • High-Speed Digitizers and Multichannel Data Acquisition Solutions
        • AC-Leistungsanalysatoren
        • DC Power Analyzers
        • Materialprüfgeräte
        • Beriebsstrom-Analysatoren
        • Parameter-/All-in-one-Analysatoren und Messkurvenschreiber
      • Meters Meters
        • Digital Multimeter
        • Phase Noise Measurement
        • Power Meters + Power Sensors
        • 53200 Series RF and Universal Frequency Counter / Timers
        • LCR Meters and Impedance Measurement Products
        • Picoamperemeter und Elektrometer
      • Generatoren, Rauschquellen und Stromversorgungen Generatoren, Rauschquellen und Stromversorgungen
        • Signal Generators (Signal Sources)
        • Waveform and Function Generators
        • Arbitrary Waveform Generators
        • Pulse Generator Products
        • HEV / EV / Grid Emulators and Test Systems
        • DC Power Supplies
        • Source / Measure Units (SMUs)
        • DC elektronische Lasten
        • AC Power Sources
      • Software Software
        • Instrument Measurement Software
        • Application Software Testing
        • EDA Software
        • Test Automation Software
        • Productivity Software
        • Software Enterprise Agreement
        • Alle Design- und Testsoftware  
      • Mobilfunk und andere Wireless-Technologien Mobilfunk und andere Wireless-Technologien
        • Wireless Network Emulators
        • Channel Emulation Solutions
        • Nemo Wireless Network Solutions
        • 5G OTA Chambers
        • Wireless Analyzers
        • IoT Regulatory Compliance Solutions
      • Modulare Messgeräte Modulare Messgeräte
        • PXI Products
        • AXIe Products
        • Data Acquisition — DAQ Systems
        • USB Products
        • VXI Products
        • Reference Solutions
        • All Modular Instruments  
      • Netzwerktest und -sicherheit Netzwerktest und -sicherheit
        • Protocol and Load Test
        • Network Test Hardware
        • Cloud Test
        • Performance Monitoring
        • 5G NR Base Station Test
        • Radio Access and Core Network Test
        • Network Security Test
        • Cyber Training Simulator
        • Network Modeling
        • Application and Threat Intelligence
        • Alle Netzwerktests und -sicherheit  
      • Netzwerktransparenz Netzwerktransparenz
        • Network Packet Brokers
        • Cloud Visibility
        • Network Taps | Keysight
        • Bypass Switches
        • All Netzwerktransparenz  
      • Service Service
        • KeysightCare Service und Support
        • KeysightAccess Service
        • Calibration Services
        • Repair Services
        • Technology Refresh Services
        • Test as a Service — TaaS
        • Netzwerk / Sicherheitsservices
        • Consulting Services
        • Financial Services
        • Schulungen und Weiterbildung
        • Keysight Support Portal
        • Used Equipment
        • All Services  
      • Additional Products Additional Products
        • In-Circuit Testsysteme
        • Application-Specific Test Systems And Components
        • Parametric Test Solutions
        • Photonische Test- und Messprodukte
        • Laser Interferometers and Calibration Systems
        • Monolithische Lasercombiner und Präzisionsoptiken
        • MMIC Millimeter-Wave and Microwave Devices
      • All Products, Software, Services  
    • Lösungen
        Nach Anwendungsbeispiel durchsuchen Nach Branche durchsuchen See All Use Cases
      • Alle Lösungen  
      • Luft- / Raumfahrt und Verteidigung Luft- / Raumfahrt und Verteidigung
      • Automobil und Energie Automobil und Energie
      • 5G 5G
      • Halbleiter Halbleiter
      • Service-Anbieter Service-Anbieter
      • Alle Branchen  
    • Insights
      • Discover Insights Discover Insights
      • Erfolgsgeschichten Erfolgsgeschichten
      • Blog Blog
      • Keysight University Keysight University
      • All Insights  
    • Ressourcen
    • Buy
    • Support
      • Keysight Produkt-Support Keysight Produkt-Support
      • Ixia Produkt-Support Ixia Produkt-Support
      • All Support  
    Willkommen |
    Exit Procurement Session
    • View and Transfer Cart
    • Discard Cart and End Procurement Session

    Können wir Ihnen behilflich sein?

    M9484C VXG Radar-Szenen-Emulator AresONE-S 400GE Produkte finden Eine Lösung finden Technische Unterstützung An einem Training teilnehmen Unsere Teilnahme an Veranstaltungen finden Hochwertige Gebrauchtgeräte KeysightCare Online Kauf
    Empfohlene Suchanfragen
    No product matches found - System Exception
    Passende Inhalte
    8 Tips for Better Scope Probings
    Application Notes

    8 Tips for Better Scope Probings

    Show Description

    Introduction 

    Probing is critical for making quality oscilloscope measurements, and often a probe is the first link in your oscilloscope measurement chain. If probe performance is not adequate for your application, you will see distorted or misleading signals on your oscilloscope. Selecting the right probe for your application is the first step toward making reliable measurements. How you use the probe also affects your ability to make accurate measurements and obtain useful measurement results. In this application note, you will find eight useful hints for selecting the right probe for your application and for making your scope probing better. The following probing tips will help you avoid the most common probing pitfalls.

    Table of contents 

    • Hint #1 – Passive or active probe?  
    • Hint #2 – Probe loading check with two probes  
    • Hint #3 – Compensate probe before use  
    • Hint #4 – High sensitivity, wide dynamic range current measurement  
    • Hint #5 – Make safe floating measurements with a differential probe  
    • Hint #6 – Check the common-mode rejection  
    • Hint #7 – Check the probe coupling  
    • Hint #8 – Damp the resonance 

    Hint 1: Passive or active probe? 

    For general-purpose mid-to-low-frequency (less than 600-MHz) measurements, passive high-impedance resistor divider probes are good choices. These rugged and inexpensive tools offer a wide dynamic range (greater than 300 V) and high input resistance to match a scope’s input impedance. However, they impose heavier capacitive loading and offer lower bandwidths than low-impedance (z0) passive probes or active probes. All in all, high-impedance passive probes are a great choice for general-purpose debugging and troubleshooting on most analog or digital circuits. 

    For high-frequency applications (greater than 600 MHz) that demand precision across a broad frequency range, active probes are the way to go. They cost more than passive probes and their input voltage is limited, but because of their significantly lower capacitive loading, they give you more accurate insight into fast signals. 

    A passive probe loads the signal down with its input resistance, inductance, and capacitance (green trace). You probably expect that your oscilloscope probe will not affect the signals in your device under test (DUT). However, in this case, the passive probe does have an effect on the DUT. The probed signal’s rise time becomes 4 ns instead of the expected 600 psec, partly due to the probe’s input impedance, but also due to its limited 500-MHz bandwidth in measuring a 583-MHz signal (0.35/600 psec = 583 MHz). The inductive and capacitive effects of the passive probe also cause overshoot and ripping effects in the probe output (purple trace). Some designers are not concerned about this amount of measurement error. For others, this amount of measurement error is unacceptable.

    Hint 2: Probe loading check with two probes 

    Before probing a circuit, connect your probe tip to a point on your circuit and then connect your second probe to the same point. Ideally, you should see no change in your signal. If you see a change, it is caused by the probe loading. 

    In an ideal world, a scope probe would be a non-intrusive (having infinite input resistance, zero capacitance, and inductance) wire attached to the circuit of interest and it would provide an exact replica of the signal being measured. But in the real world, the probe becomes part of the measurement and it introduces loading to the circuit. 

    To check the probe loading effect, first, connect one probe to the circuit under test or a known step signal and the other end to the scope’s input. Watch the trace on the scope screen, save the trace and recall it on the screen so that the trace remains on the screen for comparison. Then, using another probe of the same kind, connect to the same point and see how the original trace changes over the double probing. 

    You may need to make adjustments to your probing or consider using a probe with lower loading to make a better measurement. 

    Möchten Sie die E-Mail-Adresse ändern? Dies ist ein obligatorisches Eingabefeld

    Dies ist ein obligatorisches Eingabefeld

    Dies ist ein obligatorisches Eingabefeld

    Dies ist ein obligatorisches Eingabefeld

    Dies ist ein obligatorisches Eingabefeld

    Dies ist ein obligatorisches Eingabefeld

    Dies ist ein obligatorisches Eingabefeld

    Dies ist ein obligatorisches Eingabefeld

    Dies ist ein obligatorisches Eingabefeld

    Dies ist ein obligatorisches Eingabefeld

    Möchten Sie mit einem unserer Vertriebsingenieure über Ihren Bedarf zu diesem Zeitpunkt sprechen?* Dies ist ein obligatorisches Eingabefeld
    Durch Anklicken der nachstehenden Schaltfläche übermitteln Sie Ihre persönlichen Daten an Keysight. Informationen darüber, wie wir Ihre Daten verwenden, finden Sie in der Datenschutzerklärung von Keysight. Datenschutzerklärung von Keysight.

    Besten Dank

    Entdecken

    • Produkte & Service
    • Lösungen
    • Branchen
    • Veranstaltungen
    • Keysight University

    Erkunden

    • Erfolgsgeschichten
    • Ressourcen
    • Blog
    • Community

    Partner

    Support

    • Keysight Produkt-Support
    • Ixia Produkt-Support
    • Softwarelizenzen verwalten
    • Produkt Auftragsstatus
    • Teile / Ersatzteile

    Über Keysight

    • Newsroom
    • Investor Relations
    • Qualität und Sicherheit
    • Soziale Unternehmensverantwortung
    • Vielfalt, Gerechtigkeit und Inklusion
    • Lieferkettentransparenz
    • Karriere

    • Facebook: Connect with Keysight LinkedIn: Connect with Keysight Twitter: Connect with Keysight YouTube: Connect with Keysight WeChat: Connect with Keysight
    • © Keysight Technologies 2000–2023
    • Datenschutz
    • Sitemap
    • AGBs
    • Markenanerkennungen
    • Feedback