IC-CAP 2012.01 為自動量測解決方案 － IC-CAP WaferPro 可將大量資料存入 SQL 資料庫。欲完成從量測到建模的整個建模流程，您可使用DataPro資料處理和選擇工具來分析和識別量測資料，以進行建模。IC-CAP 2012.01並提供NeuroFET 功能 － 這項新增的完整量測FET 建模流程可自動控制資料擷取，並提供類神經網路培訓和用於非線性電路設計的非準靜態 FET 模型模擬功能。這些新量測功能和程控特性為 IC-CAP 2012.01 提供額外的優勢。

IC-CAP SQL 資料庫連結

Keysight IC-CAP 現在可以建立或連接到SQL 資料庫。相較於將資料儲存到檔案系統的做法，使用資料庫的主要優勢是您可簡單、快速地搜尋資料（因為無需逐一打開每個檔案）。其他主要優點還包括易於管理記憶體（無需將數MB的資料載入IC-CAP以進行選擇）、方便維護、更加安全（集中存放資料、密碼保護等），並且比較不容易出錯。

在自動化量測過程中，WaferPro 會將資料儲存到資料庫（但仍提供檔案儲存選項）。可透過預設的資料庫schema儲存資料，以便存放各種典型的晶圓上量測資訊，例如晶圓、晶粒、裝置資訊等。此schema非常靈活並且經過最佳化，可加快查詢速度，而且使用者能夠根據在量測過程中保存的資訊來客製資料。可依照量測「執行」時間戳記，將裝置資訊、例行任務和量測條件、掃描和逐點量測資料，儲存到資料庫中，然後再將資料匯入其他工具，例如全新的 DataPro。可透過以 PEL 為基礎的 API 存取該資料庫、制定 SQL 查詢公式，並將資料重新匯入 IC-CAP 環境。 IC-CAP 2012.01 支援 MySQL 和 SQLite 資料庫。

W8503 IC-CAP DataPro

Keysight IC-CAP DataPro 可根據選定的目標來處理統計資料，並且識別用於裝置萃取的標準和典型晶粒。如此可幫助使用者確定和消除其行為與統計平均值相差過大的異常元件。

Keysight DataPro 可連接到現有資料庫或檔案庫。另亦提供便利的操作介面，讓使用者能輕鬆選擇目標資料，以進行統計分析。選定的目標可以是掃描曲線（例如：Id 與Vd）或是點資料（例如：Vth 或Idmax）。該程式可對目標資料進行統計分析並計算平均值和變動值。包含直方圖在內的統計圖，讓使用者能夠檢測資料及其分佈，並確定和消除異常元件。此外，該軟體可精確指定用於典型裝置模型萃取的標準晶粒和邊緣建模的角晶粒。更多 DataPro 的相關資訊，請參見W8503EP IC-CAP 資料處理和分析（DataPro）網頁。

圖1：WaferPro 和 DataPro 流程

Keysight W8531 NeuroFET 萃取套件

Keysight NeuroFET 萃取套件是是德技術中心開發的新模型，取得軟體授權後，可為 FET 和 HEMT 元件的 Keysight NeuroFET 模型提供萃取程序。利用該萃取套件，使用者可執行所有直流和S 參數量測，以萃取模型。在量測高功率區域之前，專用的擷取程序可避免量測過程中出現元件退化。藉由使用多執行緒執行誤差最佳化流程，此專屬程序可大幅提升中央處理器（CPU） 使用率，近而自動完成ANN 培訓。是德的先進設計系統（ADS）提供該模型。更多相關資訊，請參見 W8531EP IC-CAP NeuroFET 萃取套件網頁。

圖2：NeuroFET 量測和萃取流程

最新量測功能

Keysight IC-CAP 2012.01 現在支援新型 Keysight B2900A 系列精密型電源量測設備（SMU）。Keysight B2900A 系列提供經濟有效的量測解決方案。Keysight B2900A 驅動程式支援儀器的脈衝和取樣（時域）模式。Keysight B1500A 和 B1505A 驅動程式加入新的增強功能，並支援時域量測。Keysight IC-CAP 2012.01 允許使用者選擇在儀器和 IC-CAP 之間傳輸量測資料的 byte 數，以便讀取 B1500A、B1505A 和 E5270B 直流分析儀的高解析度量測資料。

圖3：Keysight B2900A 系列精密型電源量測設備

Solaris 停止供應說明

從新的 IC-CAP 版本開始，Keysight EEsof EDA 不再發佈基於 Solaris（SUN OS）平台的 IC-CAP。

了解詳情

請觀看「IC-CAP 2012.01 新特色介紹」簡報，以獲得本版軟體新特色的詳細說明與範例。

開始操作

如果您已準備開始使用 IC-CAP，請填寫並送出 Keysight EEsof EDA 軟體展示影片申請函。

需要其它的版本嗎？ 請查看其他版本的 IC-CAP。