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EMI/EMC、相位雜訊、實體層測試系列

EMI/EMC 解決方案

  • 是德為您提供 EMI 量測解決方案,包括先期認證測試、EMC 診斷和完整的相容性測試
  • 相位雜訊量測解決方案
  • 靈活地測試 VCO、DRO、晶體振盪器、合成器、放大器以及轉換器,並量測連續波/脈衝和雜波信號
  • 信號源分析儀 — 提供全球最快的測試速率、對高頻率信號源的 VCO 或其它類型進行特性分析的最佳可用性,以及對高速資料通訊系統中的時脈抖動評估

實體層測試系統

  • 基於向量網路分析儀和時域反射計的系統,可因應高速數位設計中的信號完整性挑戰

  • EMI 接收器與 EMC 先期認證分析儀 EMI 接收器與 EMC 先期認證分析儀 

    EMI 接收器與 EMC 先期認證分析儀

    • 使用完全符合標準的 EMI 接收器執行完整的認證測試(CISPR 16-1-1 2010 和 MIL-STD_461)
    • EMI 量測應用軟體可執行先期認證量測和 EMC 問題診斷評估
       

  • 相位雜訊量測系統 相位雜訊量測系統 

    相位雜訊量測系統

    簡化相位雜訊的量測、縮短生產ATE的測試時間、選擇各種Hz測試能力…

  • N1930B 實體層測試系統軟體 2014 版 N1930B 實體層測試系統軟體 2014 版 

    N1930B 實體層測試系統軟體 2014 版

    • MATLAB 相容性
    • 多通道進階眼圖
    • Hot TDR 量測
    • 為自動夾具移除 (AFR) 功能添加第二個通道
    • 過量電抗量測

  • Recommended Electronic Calibration (ECal) modules for VNA-based PLTS Recommended Electronic Calibration (ECal) modules for VNA-based PLTS 

    Recommended Electronic Calibration (ECal) modules for VNA-based PLTS

Discontinued Specialized RF Products - Antenna Test, Phase Noise, and Physical Layer Test Systems [已停產]
Product information and resources for discontinued specialized RF products.