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精密型电流－电压分析仪系列

精密型电流－电压分析仪系列能够确保准确和高效的电流－电压测量，为您分析各种应用中的 IV 特征提供清晰的洞察力。功能强大的表征软件以及综合电源和测量电源（SMU）使您可以更快、更简单地实施精确的 IV 表征。EasyEXPERT group+ 软件支持所有表征任务，例如测量设置和执行、数据分析、数据管理和保护等。它支持直观的图形用户界面和鼠标/键盘操作。该系列还提供了极其广泛的 IV 分析仪，从经济型分析仪到能够支持尖端应用的最先进分析仪应有尽有，您可以选用最适合自身测量需求的分析仪。

功率器件分析仪系列

是德科技功率器件分析仪是用于功率器件测试的最佳解决方案。功率器件分析仪可以配备各种高性能选件，这些选件覆盖从 3 kV / 20A 到 10 kV /1500A 的广阔电流和电压范围并具有其他特性，从而使分析仪能够测试所有类型的功率器件。该系列提供了众多型号的功率器件分析仪，以满足功率器件制造商和功率电路/产品制造商的特殊需求。


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精密型电流电压分析仪

精密型电流电压分析仪

精密型电流电压分析仪系列将功能强大的表征软件与综合 SMU 完美结合，能够确保准确和高效的电流－电压测量，为您分析各种应用中的 IV 特征提供清晰的洞察力。

低泄漏开关矩阵系列（B2200A/B2201A/E5250A）

低泄漏开关矩阵系列（B2200A/B2201A/E5250A）

低泄漏开关主机解决方案位于半导体参数分析仪与晶圆之间，可自动执行表征测试，降低测试成本（B2200A、B2201A 和 E5250A）。

功率器件分析仪/曲线追踪仪

功率器件分析仪/曲线追踪仪

是德科技功率器件分析仪提供了宽广的电压和电流量程，能够测试 IGBT、超结 MOSFET 等各种功率器件。

Featured Resources

应用指南 2019.01.07

Accelerate the development of Next Generation Non-Volatile Memory

Accelerate the development of Next Generation Non-Volatile Memory

You can accelerate the development of next generation non voltile memory; CX3300 series for visualizing the fast switching characteristics, B1500A for basic IV,CV,pulsed IV and reliability testing.

2019.01.07

Case Studies 2022.11.09

Improving Reliability of Semiconductor Devices

Improving Reliability of Semiconductor Devices

Automation of random telegraph noise measurement (RTN) is now possible using the B1500A's waveform generator/fast measurement unit (WGFMU) module and WaferPro Express.

2022.11.09

Flyers 2014.07.31

Top 5 Reasons to Use Keysight Precision SMU Products for Solar Cell Evaluation

Top 5 Reasons to Use Keysight Precision SMU Products for Solar Cell Evaluation

This is a flyer targeting business opportunities for solar cells / modules and will be used by FEs and AEs generate business leads. Most of existing instrument products in HSTD are related to this flyer.

2014.07.31

技术概述 2019.08.23

B1500A 半导体器件分析仪

B1500A 半导体器件分析仪

本技术概览对完整的器件表征解决方案做了阐述，介绍了如何使用 B1500A 半导体器件分析仪来满足各种测量需求，包括从基本的 IV 和 CV 测量到超快速脉冲及瞬态 IV 测量。

2019.08.23

Application Notes 2019.10.09

DC MOSFET Characterization at the Wafer Level

DC MOSFET Characterization at the Wafer Level

This application note discusses the use of the B1500A semiconductor device analyzer for ultra low current DC MOSFET characterization at the wafer level.

2019.10.09

Technical Overviews 2017.12.01

Challenges and Solutions for Material Science/Engineering Testing Applications

Challenges and Solutions for Material Science/Engineering Testing Applications

This technical overview introduces Keysight solutions for material science and engineering test applications.

2017.12.01

应用指南 2019.10.23

使用 Keysight B1500A MFCMU 和 SCUU 进行 IV 和 CV 测量

使用 Keysight B1500A MFCMU 和 SCUU 进行 IV 和 CV 测量

本应用指南（共 8 页）介绍了如何使用 B1500A MFCMU 和 SCUU 搭建精确的 IV 和 CV 测量系统。

2019.10.23

Success Stories

Case Studies 2022.11.09

Improving Reliability of Semiconductor Devices

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Automation of random telegraph noise measurement (RTN) is now possible using the B1500A's waveform generator/fast measurement unit (WGFMU) module and WaferPro Express.

2022.11.09

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