Вы искали эту информацию? Посмотреть другие результаты поиска:

 

Связаться с экспертом

Решения для моделирования и определения характеристик устройств

Наши продукты и передовые решения обеспечивают моделирование и определение характеристик КМОП устройств и приборов на основе полупроводниковых соединений. Компания Keysight является единственным производителем, который предоставляет законченные решения для моделирования — от автоматических измерений, точной экстракции параметров моделей устройств и комплексной оценки качества модели до окончательной аттестации библиотек технологических процессов (PDK). Универсальные средства моделирования поддерживаются высококвалифицированными специалистами Keysight и самыми передовыми исследовательскими лабораториями. Решения для моделирования и определения характеристик устройств включают как программные (САПР), так и аппаратные средства.

Основные преимущества решений для моделирования устройств

  • Программное обеспечение для определения характеристик и анализа полупроводниковых приборов (Integrated Circuit Characterization and Analysis Program, IC-CAP) является отраслевым стандартом САПР для моделирования полупроводниковых устройств
  • Программа Model Builder (MBP) представляет собой универсальное решение для моделирования полупроводниковых устройств на основе кремния
  • Программа обеспечения качества моделей (Model Quality Assurance, MQA) является отраслевым стандартом для аттестации, сравнения и документирования моделей SPICE
  • Программа WaferPro Express для автоматизаций измерений на пластине и программирования процедур испытаний; может использоваться с различными измерительными приборами, пробниками и зондовыми станциями
  • Усовершенствованный анализатор низкочастотного шума (Advanced Low-Frequency Noise Analyzer, A-LFNA) позволяет выполнять измерения на пластине, а также анализ фликкерного шума и произвольного телеграфного шума (RTN)

Более подробная информация о моделировании и определении характеристик устройств

  • САПР для моделирования полупроводниковых устройств IC-CAP САПР для моделирования полупроводниковых устройств IC-CAP 

    САПР для моделирования полупроводниковых устройств IC-CAP

    Отраслевой стандарт для моделирования полупроводниковых приборов в ВЧ диапазоне и на постоянном токе. САПР IC-CAP производит экстракцию параметров, которые можно использовать для моделирования в высокоскоростных/цифровых, аналоговых и ВЧ приложениях.

  • Программа для моделирования устройств Model Builder Программа для моделирования устройств Model Builder 

    Программа для моделирования устройств Model Builder

    Программа Model Builder представляет собой комплексное решение, обеспечивающее автоматизацию и гибкость моделирования полупроводниковых устройств на основе кремния.

  • Программа проверки качества модели MQA Программа проверки качества модели MQA 

    Программа проверки качества модели MQA

    Программа проверки качества модели MQA дает возможность разработчикам и производителям интегральных схем проводить проверку достоверности, сравнение и документирование моделей SPICE.

  • WaferPro Express WaferPro Express 

    WaferPro Express

    • Performs automated wafer-level measurements of semiconductor devices
    • Provides turnkey drivers and test routines
    • Key software component of Wafer-level Measurement Solution, a joint partnership program with Cascade Microtech
       

  • E4727A Advanced Low-Frequency Noise Analyzer E4727A Advanced Low-Frequency Noise Analyzer 

    E4727A Advanced Low-Frequency Noise Analyzer

    • Automate 1/f, RTN and DC measurements with WaferPro Express
    • Built-in routines for devices: BJT, FET, Diode, Resistor, Circuit
    • Industry-leading noise sensitivity (-183 dBV2/Hz) at high voltages (±200 V) to ultralow frequencies (0.03 Hz)

Сопутствующие отрасли и технологии