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Analisadores de Parâmetros e Dispositivos, Traçadores de Curvas

A série de analisadores de parâmetros/dispositivos semicondutores da Keysight oferece abordagens novas e tradicionais orientadas a tarefa para a caracterização de dispositivos, em resposta às diferentes necessidades dos usuários de hoje. Usuários experientes, com conhecimentos profundos de hardware, gostarão das funções tradicionais de analisador de parâmetros dos instrumentos 4155 e 4156. Esses instrumentos são uma boa opção para os usuários que já criaram algoritmos e software especificamente para esses produtos e não veem necessidade de mudança. Novos usuários, menos familiarizados com as complexidades do hardware, verão no método de medição voltado à aplicação do B1500A uma abordagem intuitiva e de fácil uso para a caracterização de dispositivos.

Além disso, o B1505A oferece uma solução para a análise de dispositivos de alimentação formada por um único instrumento e o seu modo traçador de curvas com varredura por botão de controle oferece uma interface simples e intuitiva.

Para ver uma comparação entre analisadores de parâmetros e dispositivos, clique aqui.

  • Precision Current-Voltage Analyzers Precision Current-Voltage Analyzers 

    Precision Current-Voltage Analyzers

    • Integrated SMUs and characterization software makes IV characterization much quicker and simpler
    • EasyEXPERT group+ software supports all the characterization tasks
    • A wide selection of analyzers suitable to your specific measurement needs

  • Power Device Analyzer / Curve Tracer Power Device Analyzer / Curve Tracer 

    Power Device Analyzer / Curve Tracer

    • Best solutions for power device evaluation
    • Wide range voltage and current ratings
    • Both IV and CV test capabilities
    • Intuitive and automated operation
       

  • Low-leakage Switch Matrix Mainframes (B2200A/B2201A/E5250A) Low-leakage Switch Matrix Mainframes (B2200A/B2201A/E5250A) 

    Low-leakage Switch Matrix Mainframes (B2200A/B2201A/E5250A)

    Low-leakage switch mainframe solutions, positioned between the semiconductor parameter analyzer and the wafer, reduce cost of test through characterization test automation (B2200A, B2201A and E5250A).

Discontinued and Obsolete Parametric Test Equipment [Descontinuado]
4155C, 4156C, 41000 Series, N9201A, 4070 Series, 4140B, 4142B, 4145A/B, 4155A, 4156A, 41501A, 4155B, 4156B, 4157A, 4157B,4280A, E5270A, E5272A, and E5273A

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