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86100C Infiniium DCA-J広帯域オシロスコープ・メインフレーム

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バージョン: A.10.83
リリース: 2014-05-21

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N282XA キャリブレーション手順
このドキュメントは、N2820A/1A 高感度電流プローブのInfiniium、InfiniVisionシリーズでのキャリブレーションの実施手順を説明したものです。

アプリケーション・ノート 2016-08-17

NB-IoT System Modeling: Simple Doesn’t Mean Easy
This paper presents a method for modeling and evaluating a new Narrowband Internet of Things (NB-IoT) system in a combined multi-domain simulation environment.

アプリケーション・ノート 2016-08-12

PDF PDF 1023 KB
Using BenchVue Test Flow to Create Test Sequences without Programming - Application Note
This document explains some of the many things you can do with the BenchVue Test Flow app, such as create sequences of setups and measurements --all without having to write a computer program.

アプリケーション・ノート 2016-08-11

PDF PDF 3.77 MB
Overcoming Test Challenges of USB Type-C - Application Note
This application note provides an introduction to the USB Type-C connector, the interface functions it provides, and test implications engineers face when integrating the connector into their designs.

アプリケーション・ノート 2016-08-10

PDF PDF 3.19 MB
Latest wireless standards - poster
Latest wireless standards poster. If you want to order a hardcopy: Order a hardcopy

アプリケーション・ノート 2016-08-03

PDF PDF 5.86 MB
IoT’s insights - poster
IoT’s insights poster. If you want to order a hardcopy: Order a hardcopy

アプリケーション・ノート 2016-08-03

PDF PDF 5.75 MB
Keysight Technologies マルチレーンBERTテスト用のスイッチングソリューション

アプリケーション・ノート 2016-07-29

Keysight Technologies CX3300シリーズ デバイス電流波形アナライザ

アプリケーション・ノート 2016-07-21

Understanding LTE-Advanced Base Station Transmitter RF Conformance Testing - Application Note
This application note focuses on LTE-A basestation transmitter testing using the 3GPP RF conformance tests. Examples provided with MXA Signal Analyzer, multi-touch and the LTE-A measurement app.

アプリケーション・ノート 2016-07-19

PDF PDF 4.51 MB
Power Supply Control Loop Response (Bode Plot) Measurements - Application Note
Unique to Keysight’s portfolio of measurements are frequency response measurements including Control Loop Response (Bode) and can be performed using InfiniiVision X-Series oscilloscopes.

アプリケーション・ノート 2016-07-15

Scanning Microwave Microscopy Solutions for Quantitative Semiconductor Device Characterization
Discussion of Scanning Microwave combined with Atomic Force Microscopy for calibrated measurements for Semiconductor devices

アプリケーション・ノート 2016-07-15

PDF PDF 3.31 MB
Power Supply Rejection Ratio (PSRR) Measurements - Application Note
Power Supply Rejection Ratio (PSRR) measurements for power supply characterization, unique to Keysight’s portfolio of measurements, can be performed using InfiniiVision X-Series oscilloscopes.

アプリケーション・ノート 2016-07-15

Maximizing Battery Life of IoT Smart Devices with Keysight Solutions - Application Brief
This application brief details the design and test challenges involved with maximizing the battery life of Internet of Things (IoT) smart devices, and recommends Keysight solutions to address them.

アプリケーション・ノート 2016-07-14

PDF PDF 732 KB
A Simple Software Solution for Porosity Analysis of Shale Specimens - Application Note
High throughput shale analysis procedure including high resolution imaging of ion milled shale samples using a compact field emission SEM and a quick software analysis for 2D porosity measurement.

アプリケーション・ノート 2016-07-13

PDF PDF 1.64 MB
Keysight EEsof EDA 3次元フレームワークを用いた車載用FMCWレーダーシステムのデザイン
このアプリケーションノートでは、マルチアンテナ、デジタルビームフォーミング(DBF)、多次元DSP信号処理、パラメータ予測アルゴリズムが必要な高度なFMCWレーダーシステムのデザイン手法を提案します

アプリケーション・ノート 2016-07-07

Keysight Technologies Sパラメータ・モデルを使用したFPGAのパワー・インテグリティ・シミュレーション
Sパラメータ・モデルを使用したFPGAのパワー・インテグリティ・シミュレーション

アプリケーション・ノート 2016-07-01

Solving Test Challenges for Internet of Things-Enabled Consumer Electronics Devices
The Internet of Things is a key enabler of the smart home, and brings with it unique challenges for designers and manufacturers. Keysight has a complete portfolio to address the test challenges.

アプリケーション・ノート 2016-06-30

Tips for Preventing Damage to Communication Test Set - Application Brief
Popular Keysight models: E5515A/B/C/T

アプリケーション・ノート 2016-06-29

Jitter: Measurements and Instrument Solutions - Application Note
This application note discusses jitter measurements at high data rates, issues impacting measurement accuracy, and looks at the instrument choices available for observing and analyzing jitter.

アプリケーション・ノート 2016-06-27

PDF PDF 1.17 MB
Separating and Time-Correlating Deterministic Jitter Components - Application Note
Contains “tips and tricks” on how to employ real-time oscilloscopes with jitter analysis and high-speed pulse/pattern generators to separate and time-correlate specific deterministic jitter components

アプリケーション・ノート 2016-06-23

PDF PDF 582 KB
Jitter Fundamentals: Sources, Types, and Characteristics - Application Note
Effectively diminish its effects jitter by understanding the types, causes, component characteristics, and measurement vantage points.

アプリケーション・ノート 2016-06-22

PDF PDF 784 KB
簡易的なEMC測定の手法と扱い方 スライドPDF

アプリケーション・ノート 2016-06-16

PDF PDF 2.64 MB
Implementing a Flexible Testbed for 5G Waveform Generation and Analysis - Application Note
This application describes a flexible 5G testbed that includes proven, off-the-shelf software and hardware; and also examines the challenges in design and test of 5G technology.

アプリケーション・ノート 2016-06-14

Discover How the Intuitive Multi-touch UI Streamlines Complex Measurements
Six application briefs demonstrate the latest techniques using X-Series signal analyzers with multi-touch

アプリケーション・ノート 2016-06-08

Kelvin Force Microscopy Using the 9500 AFM - Application Brief
Discussion on KFM mode using the 9500AFM and QuickScan

アプリケーション・ノート 2016-06-07

PDF PDF 1.75 MB

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