这是我们认为您想要浏览的网页。 查看搜索结果:

 

与专家交流

技术支持

电子测量

按产品型号支持:

缩小范围

去除所有优化

行业/技术

按内容类型

1 / 1

排序:
Jitter Analysis: The Dual-Dirac Model, RJ/DJ, and Q-Scale - Application Note
This paper provides a complete description of the dual-Dirac model, how it is used in technology standards and a summary of how it is applied on different types of test equipment.

文章 2014-06-14

PDF PDF 515 KB