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Optimize burn-in test with the Keysight 34980A multifunction switch/measure unit apnote overview
This application overview will discuss the complexities of burn-in test based on the Keysight 340980A switch/measure unit

アプリケーション・ノート 2013-01-31

PDF PDF 440 KB
RF/マイクロ波テストシステムのテスト品質向上のための6ヒント
RF/マイクロ波テスト・システムを構築する際には、性能、スピード、再現性という普遍的な3つの要素が互いに関連し合います。このアプリケーション・ノートでは、このようなトレードオフを解決するための6つのヒントを提供します。

アプリケーション・ノート 2012-05-14

Test-System Development Guide: A Comprehensive Handbook for Test Engineers
Test-System Development Guide

アプリケーション・ノート 2012-05-07

Getting Test Programs Up and Running Quickly with Driver Tracing and I/O Monitor
This note helps you create an example program and then shows you how to use driver tracing and IO Monitor to examine, verify and troubleshoot I/O activity in IVI-COM drivers.

アプリケーション・ノート 2009-05-05

テスト・システムでのIVI ドライバの評価::IVI が最適な場合
このアプリケーション・ノートでは、IVI ドライバがシステムに適しているかどうかを判定できるように、テクノロジーの概要といくつかの注意 事項、およびトレードオフについて説明します。

アプリケーション・ノート 2009-01-08

ハイブリッド・テスト・システムの構築、パート2
ハイブリッド・テスト・システムの構築、パート2

アプリケーション・ノート 2008-10-15

Linux のリアルタイム・アプリケーションでテスト・システムの性能を最適化するためのヒント
本アプリケーション・ノートでは、電子計測アプリケーションでLinux を使用する際の主要な機能を解説しています。

アプリケーション・ノート 2008-04-09

Linux を使用したUSB 測定器の制御
本アプリケーション・ノートでは、Linux 環境でテスト機器を制御する方法を解説しています。

アプリケーション・ノート 2008-04-09

Linux を使用したLXI 測定器の制御:VXI-11 の使用
本アプリケーション・ノートでは、Linux 環境でテスト機器を制御する方法を解説しています。

アプリケーション・ノート 2008-04-08

Linux を使用したLXI 測定器の制御:TCP の使用
本アプリケーション・ノートでは、Linux 環境でテスト機器を制御する方法を解説しています。

アプリケーション・ノート 2008-04-01

LXI Test System Provides Flexibility for Testing Automobile Antenna Amplifiers

アプリケーション・ノート 2007-10-30

PDF PDF 213 KB
Linuxを使用したテスト・システム:Linuxの基礎
Linux環境でのテスト機器の制御を解説するアプリケーション・ノート・シリーズの第1弾です。

アプリケーション・ノート 2007-07-10

LAN/LXIを組み込むためのGPIBシステムの変更
ほとんどの場合、比較的容易にGPIB測定器をLXIベースの機器に置き換えることができます。これは、LXIの大きな利点です。

アプリケーション・ノート 2007-06-19

Cathodic Protection of Steel in Concrete Using LXI
This document discusss Cathodic protection as a remarkable technique that can substantially extend the life of a building structure by impeding corrosion.

アプリケーション・ノート 2007-04-25

PDF PDF 390 KB
Using LXI to Boost Throughput in Semiconductor Manufacturing
This document is a case study that discusses the successful customer implementation of a Keysight LXI solution for a multinational semiconductor manufacturer

アプリケーション・ノート 2007-04-25

PDF PDF 234 KB
GPIBからLXIへの移行(システム・ソフトウェア編)
本書は、相対的な性能の向上と、それを実現するための移行方法を説明します。相対的な違いを比較するために、サンプルを作成し、その性能を4種類のI/O手法で測定し、GPIBからLANへの移行後の性能レベルを予想しました。

アプリケーション・ノート 2007-03-07

テスト・システムにおけるシンセティック測定器の使用法
このアプリケーション・ノートは、GPIB/VXI/PXIからLXIへの移行のアプリケーション・ノート・シリーズの第5弾です。現在または将来の要件に対するSIの潜在的価値を評価できるように支援することを目的としています。

アプリケーション・ノート 2006-09-14

PXI、VXI、LXIによるハイブリッド・テスト・システムの構築
このアプリケーション・ノートでは、PXIおよびVXIをLXIと比較し、既存のテスト資産を統合するハイブリッド・システム・アーキテクチャの概要を説明し、完全にLXIベースのシステムに移行した場合の将来性についても説明しています。

アプリケーション・ノート 2006-06-17

GPIBからLXIへの移行
このアプリケーション・ノートでは、GPIBとLXIを比較し、ハイブリッド・システムのセットアップ手順を順を追って説明し、既存のシステム・ソフトウェアをLXIデバイスで動作するように変更する簡単な方法を紹介します。

アプリケーション・ノート 2006-05-01

次世代LXIテスト・システム ;GPIB、PXI、VXIを超えて
このアプリケーション・ノートは、LXIへの移行を支援するアプリケーション・ノートの第1弾で、システム開発における問題、LXI規格の特長、LXIによる問題への対処方法、LXIデバイスによるテストの新しい可能性について紹介しています。

アプリケーション・ノート 2006-03-07

システムの信号:経路の校正ベクトルおよびスカラ補正法による測定精度の向上
このアプリケーション・ノートでは、RF信号経路を校正して、正確で再現性の高い測定を実現するための、3種類の方法について概説しています。

アプリケーション・ノート 2006-01-18

LXIによる次世代テスト・システム
このアプリケーション・ノートでは、LXIの利点を紹介するとともに、テスト・システムの適用範囲および機能について概説しています。

アプリケーション・ノート 2005-06-10

ファンクション・テスト・システムの構築/サポートを簡単かつ低コストで実現
34980Aにより、簡単にカスタム・テスト・システムを実現できます。34980Aメインフレームには、最大8個の測定/スイッチ・モジュールを収容できるので、複数のモジュールを組み合わせてアプリケーションに応じた機能を搭載できます。

アプリケーション・ノート 2005-02-17