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Tour de France – Besançon, le 23 février 2012 : Innovations des techniques de mesures selon Keysight

Seminário | Onde e quando

En 2012, Keysight Technologies organise plus de 18 séminaires en France sur des sujets techniques variés. Parmi les premières villes visitées, nous organiserons le jeudi 23 février un stop à Besançon. Cette journée est organisée avec notre partenaire MB Electronique, et se déroulera dans les locaux de Femto ST. Ce séminaire couvrira 3 sujets principaux.

La mesure a beaucoup évolué ces dernières années. Cette journée de séminaire vous permettra de découvrir les dernières introductions techniques en matière d’analyse et de génération de signaux. Ensuite, nous vous présenterons les méthodes de mesure de la figure de bruit, suivi par un exposé sur les procédés de réduction du bruit de phase. Pour finir, nous vous présenterons les différentes méthodes de test paramétrique.

Toutes les présentations seront données en français par les experts techniques français Keysight et MB Electronique. Venez nous rencontrer à l’occasion de cette journée organisée au Laboratoire Femto-Sciences et Technologies.

Découvrez comment résoudre vos problèmes d’aujourd’hui avec ces instruments qui sont prêts à vous suivre dans vos défis de demain. Venez discuter avec nos experts et trouvez une solution adaptée à vos besoins. Toutes les présentations de cette journée seront données en français, avec des supports en anglais.

Agenda du jeudi 26 février 2012
9h00 Accueil et introduction
 
9h30 Evolutions techniques des analyseurs de signaux ; illustrée par la gamme d’analyseurs Keysight
 
10h30 Pause
10h45 Techniques de mesure de la figure de bruit (Noise Figure)
 
11h45 Réduire le bruit de phase en RF et microondes
 
12h45 Déjeuner
14h15 Mesure de qualification et de pré-qualification CEM en HF conduit et rayonné
 
15h15 Pause
15h30 Inventaire des méthodes de test paramétrique
 
16h30 Conclusion

 

Résumé des présentations

Evolutions techniques des analyseurs de signaux Keysight
Présentation des spécifications principales de mesure d’un analyseur de spectre ou d’un analyseur de signaux pour les mesures scalaires et vectorielles. Evolution de l’architecture des nouveaux analyseurs de signaux et amélioration des performances associées. Tout ceci est illustré au travers de la gamme d’analyseurs Keysight.

Techniques de mesure de la figure de bruit (Noise Figure)
There are two main methods for making noise figure measurements. The first and most widely used is the Y-factor or hot/cold-source method. It uses a calibrated noise source designed to have a well matched output termination to the DUT. The termination can be switched to provide both a room temperature noise level and a somewhat higher level, thus the name “hot/cold source” method. The second way of measuring NF is termed the direct noise or cold-source method. It typically employs a vector network analyzer (VNA) so that measurements can be made, in addition to NF, without the need for multiple connections. This paper looks at the differences between the two techniques providing insight as to the best one to use for various applications.

Réduire le bruit de phase en RF et microondes
Phase noise can be an insidious enemy that can wreak havoc on radar and communication system performance and the ability to accurately evaluate precision microwave components and subsystems. Doppler radar systems may be the most vulnerable in that they rely on the ability to detect small frequency shifts in the signal return to determine target velocity as well as to estimate its acceleration. This requires low phase noise for frequency offsets from the carrier that are relatively small representing the Doppler shift of a moving target. Wireless communication technologies that employ Offset Frequency Division Multiplexing (OFDM) methods need low phase noise at mid to far from carrier offsets in order to minimize sub-carrier interference. This paper explores the sources of phase noise in commercial RF and microwave signal generators and how it affects the performance of radar and communication systems. It then looks at methods used to reduce phase noise in the signal generator and how these improvements translate into value for system and component development and verification.

Mesure de qualification et de pré qualification CEM en HF conduit et rayonné
Cette présentation se focalisera principalement sur les tests CEM en émission. Après une brève description des directives, nous présenterons les concepts fondamentaux pour réaliser ces essais ainsi que les équipements et accessoires nécessaires.

Inventaire des méthodes de test paramétrique
Keysight semiconductor analyzer is the crown of SMU technology merging with superior user interface for measurement and analysis. 4155/56 is de facto standard and widely used by customers who are working for low and medium power devices. It covers up to 200V and 1A with 1fA resolution. As the next generation of 4155/56, we have now B1500A. In addition to all of 4155/56 measurement functions, B1500A supports Quasi and multi-frequency CV measurement, pulse generation up to +/- 40V, waveform generation and fast measurement capabilities. These measurement hardware are controlled by MS window based user interface, called EasyEXPERT. It provides easy-to-use test and analysis environment with menu driven and fill-in-the-blank capability. The furnished library of over 200 user-modifiable application tests makes it easy to begin making complicated measurements immediately. The latest analyzer, B1505A is for high power device and new material evaluation, with covering up to 40A and 3000V. Standard test fixture and prober accessories encourage safety testing for both package and on-wafer device measurement. Real curve tracer mode helps checking the device quickly. Our instrument and analyzer contribute to R&D, reliability analysis for low and high voltage semiconductor device and new materials like MEMS, carbon nanotube, SiC, power device. With those products, we are contributing to following customer and market, like research and education, semiconductor industry.

 

Pour voir la liste complète des stops du Tour de France Keysight 2012, cliquer ici.
 

Onde e quando

Data(s) Local Para mais informações
2012-02-23 09:00 — 04:30
Local
Besançon