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Les mesures RF & hyperfréquences

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KEYSIGHT HOTSPOTS : Les mesures RF et hyperfréquences
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Accueil & Présentation générale – Keysight
Thème 1 : Les fondamentaux de l’analyse de spectre
Pause & Networking
Thème 2 : Les fondamentaux de l’analyse de signaux vectoriels      
Pause Déjeuner & Networking
Thème 3 : Les mesures de puissance RF
Déjeuner & « Networking »
Thème 4 : Les fondamentaux de l’analyse de réseau
Pause & « Networking »
Thème 5 : La conception RF & les fondamentaux de la simulation
Démonstrations pratiques
Conclusion

Séminaire consacré aux fondamentaux de la mesure RF et hyperfréquences


Séminaire proposé par l’entreprise qui s’est imposée au cours des 70 dernières années comme le pionnier des mesures de spectre et de réseau. Rejoignez-nous pour ce séminaire GRATUIT consacré aux fondamentaux de la mesure RF et hyperfréquence. Cet événement devrait vous permettre de mieux comprendre les notions de base sur lesquelles reposent les mesures RF, notamment grâce à des applications réelles, ce qui vous aidera ensuite à gagner en efficacité et en efficience, que vous opériez dans une équipe R&D ou de test.
Vous pourrez découvrir nos toutes dernières solutions et exploiter un savoir technique indispensable à vos mesures de tous les jours. Les experts en applications et produits de Keysight se tiendront à votre disposition pour réaliser des démonstrations et faire des présentations des fonctionnalités qui permettent d’optimiser les mesures fondamentales.


Thème 1 : Les fondamentaux de l’analyse de spectre

Cette présentation se veut un outil d’apprentissage consacré à l’analyse de signaux. L’analyse de signaux vectoriels englobe certes l’analyse de spectre, mais ne s’y limite pas. Ce didacticiel a été rédigé à l’attention de ceux qui ne sont pas très familiarisés avec les analyseurs de spectre et les analyseurs de signaux vectoriels, et qui voudraient acquérir des connaissances de base sur leur mode de fonctionnement, sur la façon de les utiliser au maximum de leur potentiel et de les rendre plus efficaces dans certaines applications. Ayant été rédigé pour des ingénieurs et techniciens, cette présentation requiert par conséquent une compréhension élémentaire des principes de l’électronique.
Nous commencerons par une présentation générale de l’analyse de spectre. Dans cette partie, nous nous attacherons à définir l’analyse de spectre et ferons une brève présentation des types de tests réalisés avec un analyseur de spectre et de signaux. Ensuite, nous nous intéresserons aux analyseurs de spectre et de signaux en tant que matériel, en décrivant l’importance de chaque composant et la façon dont ces composants travaillent ensemble. Pour pouvoir réaliser des mesures avec un analyseur de signaux et interpréter correctement les résultats, il est important de bien comprendre les caractéristiques dudit analyseur. Les spécifications de l’analyseur de spectre et de signaux vous permettront de déterminer si un instrument donné sera en mesure de réaliser les mesures dont vous avez besoin et de prévoir le degré d’exactitude des résultats.

Thème 2 : Les fondamentaux de l’analyse de signaux vectoriels

Cette présentation se poursuit ensuite avec l’analyse de signaux vectoriels. Le logiciel 89600 pour l’analyse de signaux vectoriels (VSA) prend en charge plus de 75 types de signaux. Ainsi, pour ne citer que quelques exemples les normes LTE-Advanced et 802.11ac dans le domaine des radiocommunications, l’analyse d’impulsions radar et d’ondes radar entretenues (FMCW) dans le secteur de l’aérospatiale / défense, les démodulateurs personnalisés flexibles afin de permettre l’analyse de signaux propriétaires seront décrits.

Thème 3 : Les bases de la mesure de puissance RF

Cette présentation consiste en un didacticiel sur la mesure de puissance RF. Elle rappelle l’importance des mesures de puissance et décrit les différents types de mesure utilisés et leurs méthodes. Elle aborde également les différents types de technologies de sonde de puissance – thermistance, thermocouple et détecteur de diode. Enfin, elle décrit les mesures sophistiquées effectuées dans les applications RF et hyperfréquences les plus récentes, ainsi que le calcul de l’incertitude de mesure de la puissance.

Thème 4 : Les fondamentaux de l’analyse de réseau

Cette présentation propose de revoir les notions de base RF et de mieux comprendre les mesures de paramètre S, avant d’examiner les architectures et calibrages des analyseurs de réseaux vectoriels (VNA).

Un analyseur de réseau vectoriel (VNA) est un outil de mesure de précision qui teste les performances électriques des composants haute fréquence sur les bandes de fréquences radio (RF), hyperfréquences (micro-ondes) et en ondes millimétriques (nous nous référerons au terme générique « RF» pour désigner l’ensemble de ces fréquences). Un VNA constitue un système de test de «stimulus-response» composé d’une source RF et de plusieurs récepteurs de mesure. Il est spécialement conçu pour mesurer la réflexion la transmission, ou les paramètres S des composants RF. Les paramètres S ont à la fois un composant d’amplitude et de phase, et ils caractérisent la performance linéaire du dispositif sous test. Même si les VNA peuvent également être utilisés pour caractériser des comportements non linéaires, tels que la compression du gain d’amplificateur ou la distorsion d’intermodulation, la mesure des paramètres S reste leur principal type de mesure. En tant que matériel, l’analyseur de réseau a été optimisé pour réaliser des mesures par balayage à haut rendement et rapides ; bien plus rapides que celles obtenues avec une source et un récepteur indépendants, par exemple avec un analyseur de spectre. Grâce au calibrage, les VNA offrent un niveau de précision optimal pour mesurer des composants RF.

Thème 5 : La conception RF & les fondamentaux de la simulation

Découvrez les fondamentaux de la conception RF/MW avec les experts de Keysight

Cette présentation est un didacticiel sur la technologie de simulation de conception avec des outils EDA EEsof de Keysight. Une simulation sur les paramètres S sera montrée, avec l’adaptation d'impédance, le réglage, l'optimisation et la modélisation de dispositifs. Les paramètres X seront introduits et vous sera expliqués comment intégrer les paramètres S dans la phase de test / conception. Les deux logiciels Geneys et ADS de keysight seront utilisés à des fins de démonstration.
 

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Où et Quand
 

Date Lieu Langue de présentation Pour plus d'information
2017-10-25 Dublin, Ireland Anglais Inscrivez-vous ici
2017-11-28 Rosenheim, Germany Allemand Inscrivez-vous ici
2018-01-25 Leuven, Belgium Anglais Inscrivez-vous ici
2018-01-23 Eindhoven, HTC, Netherlands Anglais Inscrivez-vous ici
2018-01-30 Kaiserslautern, Germany Allemand Inscrivez-vous ici