Вы искали эту информацию? Посмотреть другие результаты поиска:

 

Связаться с экспертом

Теория и практика разработки, тестирования и испытаний современных электронных устройств

Ежегодная конференция Keysight Technologies

Москва • 29 ноября 2017 •  4 параллельных сессии •  12 тем

Составь свое расписание!

 

Компания Keysight Technologies приглашает на ежегодную конференцию Keysight Technologies, которая пройдет 29 ноября 2017 на территории конференц-центра «Инфопространство» в Москве.

Задача развития и совершенствования таких важнейших направлений российской экономики, как электронная и телекоммуникационная отрасли, стоит сейчас необычайно остро, поскольку эти отрасли промышленности обеспечивают функционирование всех жизненно важных элементов государственнойинфраструктуры гражданского и оборонного назначения, а также способствуют развитию цифровой экономики в целом. Функциональная сложность новейших устройств и систем, необходимость работы с сигналами в широком частотном спектре и/или в условиях сложной электромагнитной обстановки, обуславливают использование комплексных измерительных решений, применяемых на всех этапах цикла разработки и тестирования продукции.

На ежегодной конференции Keysight мы обсудим наиболее актуальные вопросы, возникающие в процессе работы в данной области, тенденции, а также применение новейших измерительных технологий в научных исследованиях, разработке и производстве современных электронных устройств. Конференция – это еще и уникальная возможность пообщаться не только с экспертами компании Keysight, но и с коллегами из ведущих научно-исследовательских институтов, конструкторских бюро, ВУЗов, занимающимися разработкой и тестированием электронных устройств, компонентов, систем и сетей в оборонной, аэрокосмической, полупроводниковой промышленности, области беспроводной и волоконно-оптической связи.

Обширная программа конференции включает доклады технических экспертов Keysight Technologies о технологиях и методах измерений, кроме того у каждого участника будет возможность самостоятельно поработать на измерительных стендах. Партнеры компании Keysight - Maury Microwave, Frankonia, Сиринн, Радиолайн, Акметрон, НТНК, ТЕСАРТ и другие – представят свои уникальные комплексные решения, уже реализованные в России. В программе также запланированы выступления ведущих специалистов российских предприятий, которые расскажут о своем опыте использования решений Keysight Technologies и самых интересных выполненных проектах.

Конференция будет интересна как молодым специалистам, так и всем, кто хочет поближе на практике познакомиться с новыми подходами, применяемыми для решения современных прикладных задач с помощью передовых измерительных технологий.

Для удобства участников конференция имеет 4 параллельные секции, в рамках которых будут обсуждаться 12 тем. Каждый участник может выбрать сам, какие именно темы представляют для него наибольший интерес, и в течение дня посетить только интересующие его модули программы.

Каждый модуль длится 2 часа и состоит из теоретической части (основы, ключевые методы и технологии) и практической части. В ходе практической части на каждом из модулей вы можете самостоятельно провести лабораторную работу по выбранной теме. Список лабораторных работ по каждой теме будет опубликован на сайте.
 

Программа конференции

  10:00-12:00 Кофе-брейк 12.30-14.30 Обед 15.30-17.30
Зал 1 Блок 1. Тестирование средств РЭБ. Формирование и анализ ШП сигналов   Блок 2. Тестирование устройств для сотовых и беспроводных сетей   Блок 9. Имитация и анализ сигналов современных РЛС/радаров
Темы - Современные решения по широкополосной генерации сигналов на базе модульных приборов формата PXIe
- Единое решение для анализа сигналов в мм-диапазоне до 110 ГГц 
- Развитие решений по анализу импульсных сигналов в реальном времени и идентификации эмиттеров
- Методика создания сложных сигнальных сред с повышенной плотностью импульсов
- Конструирование сигналов радаров произвольной формы для проверки функционирования систем РЭБ
- Решения по тестированию абонентских устройств сотовой связи
- Имитация реальных условий распространения сигналов
- Проверка приемопередатчиков в сотовых и беспроводных устройствах
- Функциональное тестирование автомобильных радаров и систем ЭРА-ГЛОНАСС
 
- Тестирование приемников и передатчиков систем РЛС без использования систем имитации, работающих в реальном времени.
- Имитация в реальном времени динамических и статических целей РЛС с помощью фазокогерентного многоканального имитатора Propsim.
- Гибкое решение по имитации распространения сигналов на базе модульной платформы PXI с использовнием приборов с доступной пользователю ПЛИС.
- Измерения параметров импульсных ВЧ-сигналов во временной и частотной областях на осциллографах реального времени
 
Лабораторные работы 1. Формирование и анализ сигнальной среды на базе ГСПФ и осциллографа
2. Создание многоэмиттерных сценариев тестирования систем РЭБ с применением UXG
3. Сигналы РЛС и их статистическая обработка на базе векторных генераторов и анализаторов сигналов
1. Построение стенда проверки ВЧ-параметров радиомодулей 3GPP
2. Воспроизведение условий радиоканала для систем SISO/MIMO
3. Исследование перспективных сигналов новых форматов связи
4. Внесение канальных искажений с применением векторных генераторов
 

1. Реализация многоцелевой сигнальной обстановки на базе имитатора каналов Propsim
2. Имитация и анализ сигналов РЛС: имитация работы РЛС с помощью оборудования Keysight и САПР SystemVue.
3. Измерения параметров импульсных ВЧ-сигналов во временной и частотной областях на осциллографах реального времени

  10:00-12:00   12.30-14.30 15.30-17.30
Зал 2  Блок 4. Разработка и тестирование волоконно-оптических систем связи и их компонентов    Блок 5. Разработка и тестирование устройств IoT    Блок 6. Разработка и тестирование высокоскоростных цифровых устройств
 Темы - Базовые измерения характеристик пассивных волоконно-оптических компонентов: вносимые и обратные потери, спектральные измерения, контроль и анализ поляризации
- Анализ высокоскоростных оптических компонентов на базе векторных анализаторов цепей PNA и ENA до 67 ГГц: тестирование оптоэлектронных, электрооптических устройств и оптических элементов. Анализ аналоговой модуляции и частотно-зависимые измерения
- Тестирование цифровых оптических систем связи, оптических трансиверов. Новинки в области оптических стробоскопических осциллографов. Тестеры коэффициента битовых ошибок. Стрессовое тестирование оптических приёмников.
- Радиофотонные системы связи (ROF): тестирование компонентов, измерения параметров систем и исследования различных форматов модуляции
- Измерительные задачи и проблемы при разработке и исследовании систем когерентной оптической передачи перспективных форматов. Новинки решений для формирования и анализа сигналов от компании Keysight
 
- Разработка устройств стандарта Nb-IoT на системном уровне с помощью САПР Keysight SystemVue 2017
- Тестирование устройств IoT, работающих в рамках других стандартов
- Средства обеспечения и анализа целостности сигналов и питания устройств IoT
- Оценка производительности беспроводных решений Texas Instruments с помощью решений Keysight
 - Основные тенденции и измерительные задачи при разработке высокоскоростных цифровых устройств
- Новые возможности анализа целостности сигналов и питания при моделировании в САПР ADS 2017
- Осциллографические измерения, декодирование протоколов, измерение джиттера, построение глазковой диаграммы, коррекция цифровых данных. Новые приложения для осциллографов
- Анализ и отладка цифровых устройств на логических анализаторах и анализаторах протоколов
- Новинки пробников для осциллографов и логических анализаторов. Самое точное зондирование в отрасли.
- Анализ целостности сигналов в межсоединениях и кабелях цифровых стандартов на векторных анализаторах цепей или осциллографах с функцией динамической рефлектометрии
- Тестирование передатчиков и приёмников устройств цифровых интерфейсов на соответствие требованиям стандартов
- Тестирования РЭА в условиях производства. Системы граничного сканирования x1149
 
Лабораторные работы 1. Спектральные измерения вносимых потерь на основе непрерывно перестраиваемых источников лазерного излучения серии 8160xA
2. Анализ и контроль поляризационных параметров при тестировании пассивных оптических компонентов на анализаторе Keysight N7788B
3. Анализ спектра оптических сигналов с высочайшей точностью измерения на многоволновых измерителях длины волны оптического излучения на примере Keysight 86120D
4. Анализ высокоскоростных оптических сигналов на стробоскопических осциллографах серии DCA-X и DCA-M и анализ BER при тестировании оптических трансиверов
5. Анализ высокоскоростных оптических сигналов на осциллографах реального времени семейства Infiniium с применением нового широкополосного оптоэлектронного преобразователя
6. Демонстрация возможностей комбинированного анализатора оптической модуляции Keysight N4392A для тестирования сетей 40/100G

1. Использование комбинированного анализатора FieldFox для анализа помеховой обстановки в реальном времени
2. Тестирование последовательных интерфейсов плат с помощью осциллографа
3. Тестирование целостности питания с помощью осциллографа Infiniium высокого разрешения специализированного пробника N7020A
4. Сравнение возможностей решений Keysight для тестирования малых динамических токовых сигналов

5. Оцена производительности беспроводных решений Texas Instruments с помощью решений Keysight


 

1. Анализ целостности питания с помощью типового решения на основе осциллографа Infiniium высокого разрешения и специального пробника шин электропитания.
2. Проектирование и моделирование высокоскоростных цифровых устройств в САПР Keysight ADS с анализом целостности сигнала и питания
3. Анализ целостности сигналов в межсоединениях и кабелях с помощью измерений параметров отражения и передачи во временной области (TDR/TDT) с использованием стробоскопического осциллографа DCA-X 86100D и анализатора цепей ENA E5071C. Анализ S-параметров компонентов на печатной плате и профиля импеданса линии.
4. Решение задач анализа целостности сигналов цифровых систем передачи данных во временной области на осциллографах реального времени семейства Infiniium. Измерение джиттера, построение глазковой диаграммы, коррекция цифровых данных.
5. Тестирование передатчиков устройств цифровых интерфейсов на соответствие требованиям стандартов области на осциллографах реального времени семейства Infiniium (на примере Ethernet, PCIe, HDMI).
6. Декодирование низкоскоростных протоколов последовательных шин данных на осциллографах начального класса семейства InfiniiVision (на примере MIL-STD 1553, RS232/UART).
7. Тестирование печатных плат при помощи системы граничного сканирования. Поиск неисправностей при монтаже.
  10:00-12:00   12.30-14.30   15.30-17.30
 Зал 3  Блок 7. Разработка элементной компонентой базы в условиях реализации планов по импортозамещению   Блок 8. Тестирование параметров антенн    Блок 3. Тестирование и обслуживание спутниковых систем
 Темы

- Входной/выходной контроль полупроводниковых приборов в условиях импортозамещения
- Тестирование полупроводниковых устройств на примере транзисторов большой мощности
- Тестирование параметров материалов: проблемы и решения
- Методики тестирования наноматериалов и измерения диэлектрической проницаемости объемных образцов до 1,5 ТГЦ
- Методики анализа нелинейных компонентов
- Измерительные системы Load-Pull. Что нового? (Maury Microtech)
- Повышение производительности тестирования параметров материалов и устройств с помощью многоканальных приборов Keysight (Компания НТНК)

- Основы систем измерения параметров антенн 

- Новый подход к антенным измерениям – уникальный портальный стенд, совмещающий четыре типа сканирования в одной системе: планарное сканирование вертикальное, планарное сканирование горизонтальное, сферическое сканирование, сканирование по наклонной плоскости. Единственное решение на рынке, позволяющее совместить работу с большинством типов антенн в одном стенде. - (Радиолайн)

- Безэховые экранированные камеры для антенных измерений, основные подходы к выбору габаритов камеры и ее геометрии. Радиопоглощающие покрытия российского производства (Frankonia)

- Тестирование компонентов широкополосных спутниковых систем
- Отладка и обслуживание базовых станций спутниковой связи

Лабораторные работы

1. Измерение параметров транзистора, резистора и диода
2. Тестирование ГУН. Создание чистого источника напряжения питания
3. Измерения ВАХ сопротивления большого значения и статистический анализ результатов
4. Проверка соответствия паспортным значениям параметров IGBT транзистора IRFP4004
5. Измерение диэлектрической проницаемости тефлона
6. Скалярные и векторные измерения СВЧ-параметров арсенид-галиевого транзистора. Сравнение результатов (Maury Microtech)

1. Синхронизация работы анализатора цепей с внешним генератором

Список лабораторных работ уточняется
 

1. Анализ зависимости точки компрессии ШП усилителя от частоты (односигнальный режим).
2. Измерение PAE ШП усилителя в точке компрессии (односигнальный режим).
3. Анализ зависимости коэффициента усиления от частоты (односигнальный режим).
4. Анализ зависимости коэффициента шума от частоты (односигнальный режим).
5. Измерение NPR и PAE в точке компрессии (многосигнальный режим). 

  10:00-12:00   12.30-14.30   15.30-17.30
 Зал 4  Блок 10. Оснащение метрологических лабораторий, расчет неопределенности, поверка в ЦСМ Keysight    Блок 11.  Оснащение учебных лабораторий ВУЗа    Блок 12. Тестирование приемо-передающих модулей
 Темы - Обработка результатов измерений, расчет расширенной неопределенности и доверительных границ погрешности измерений на примере измерителя мощности и мультиметра.
- Оптимизация проведения прецизионных измерений на цифровом мультиметре 3458A
- Сервисные решения ЦСМ Keysight
 

- Комплексное образовательное решение на базе бюджетного осциллографа 1000X
- Основы последовательных протоколов передачи данных
- СВЧ-методики для исследований и обучения
- Синхронизация работы анализатора цепей с внешним генератором

- Повышение точности и эффективности тестирования ППМ и их компонентов
- Программно-аппаратный комплекс для автоматизированного тестирования параметров ППМ. Опыт компании АО "Акметрон" по решению задач автоматизации измерений
- Пример разработки и симуляция приемопередатчика с ФАР диапазона 28 ГГц с помощью САПР Keysight ADS
Темы уточняются

Лабораторные работы  Список лабораторных работ уточняется

1. Определение характера и места возникновения неоднородности в линиях передачи

Список лабораторных работ уточняется

1. Подходы к построению гибких многоканальных измерительных систем с использованием программирования приборов на С#.

 Список лабораторных работ уточняется

Мы также приглашаем всех желающих выступить с докладом о результатах прикладных исследований, перспективных разработках и о примерах успешного внедрения высоких технологий в промышленности, науке и образовании с использованием решений Keysight Technologies.

Количество участников на каждый модуль ограничено, поэтому прежде чем отправить заявку на участие в конференции, ознакомьтесь с текущим перечнем открытых курсов по ссылке на сайте. Здесь вы также увидите полный список тем по каждому модулю и список доступных лабораторных работ.

Ждем Вас на конференции, посвященной контрольно-измерительным решения 29 ноября 2017 в течение дня с 10:00 до 18:00.

Надеемся, что вы найдете среди многообразия тем и докладов то, что будет интересно и полезно именно Вам!

Для участия в мероприятии требуется направить заявку. В заявке необходимо указать темы, которые вы хотите прослушать (не более 3), предварительно обязательно ознакомьтесь с расписанием. В ответ на Вашу заявку мы направим схему проезда и индивидуальное расписание.

Форма заявки:

Время Тема
10:00-12:00 Блок №
12.30 - 14.30 Блок №
15.30-17.30 Блок №                                                                 

 

Заявку, пожалуйста, отправьте по факсу +7 (495) 7973901 или эл. почте tmo_russia@keysight.com
Дополнительная информация по телефону: +7 495 7973928, +7 4957973919