Вы искали эту информацию? Посмотреть другие результаты поиска:

 

Связаться с экспертом

Основы тестирования высокоскоростных цифровых устройств

Более подробная информация на главной странице семинаров HOTSPOTS

Основы тестирования высокоскоростных цифровых устройств — Программа семинара
Регистрация - внизу страницы
Основные тенденции и измерительные задачи при разработке высокоскоростных цифровых устройств: этапы, проблемы, решения
Тема 1: Проектирование и моделирование высокоскоростных цифровых устройств в САПР Keysight ADS с анализом целостности сигнала и питания
Демонстрация работы ПО, вопросы и ответы
Тема 2: Исследование высокоскоростных сигналов на осциллографах реального времени с применением активных пробников
Демонстрация работы приборов, вопросы и ответы
Тема 3: Анализ целостности питания на печатных платах при отладке прототипа
Демонстрация работы приборов, вопросы и ответы
Тема 4: Основы формирования сигналов произвольной формы
Демонстрация работы приборов, вопросы и ответы

Доклады и их краткое содержание

Основные тенденции и измерительные задачи при разработке высокоскоростных цифровых устройств: этапы, проблемы, решения

На всех этапах — от разработки исходной концепции до тестирования на соответствие требованиям стандартов — компания Keysight позволит вам наиболее эффективно выявлять проблемы, оптимизировать характеристики, успешно и вовремя выполнить поставленные задачи.

Данный семинар охватывает следующие темы:

  • Новые средства электромагнитного моделирования для обеспечения целостности сигналов и питания
  • Пробники для осциллографов реального времени, обеспечивающие более высокую точность измерений
  • Точное измерение показателей качества питания с использованием разработанных ранее и новых методов и средств осциллографии
  • Генераторы сигналов произвольной формы: выбор подходящего прибора для разработки цифровых оптических или электрических устройств

Тема 1: Проектирование и моделирование высокоскоростных цифровых устройств в САПР Keysight ADS с анализом целостности сигнала и питания

Обеспечьте целостность сигналов и питания до создания прототипа

В связи с непрерывным ростом скорости передачи данных все большую важность приобретает необходимость точного определения S-параметров для печатных плат на высоких частотах. САПР ADS 2016 предлагает множество новых технических решений, разработанных с целью повышения точности моделирования печатных плат, в том числе, два программных продукта для электромагнитного (ЭМ) моделирования, созданных специально для инженеров, занимающихся вопросами обеспечения целостности сигналов и питания.

Это решение включает 4 новых ЭМ-симулятора:

  • анализ падения постоянного напряжения в цепях питания;
  • анализ профиля импеданса цепей распределения питания в полосе частот;
  • анализ собственных резонансов цепей питания;
  • анализ целостности сигналов с учетом питания.

На этом семинаре вы сможете ознакомиться с инновационными комбинированными технологиями на основе ЭМ анализа SIPro и PIPro для проектирования высокоскоростных линий передачи данных на печатных платах. Новые решения SIPro и PIPro предоставляют единый с САПР ADS технологический процесс моделирования для прикладных задач обеспечения целостности сигналов и питания.
 

Тема 2: Исследование высокоскоростных сигналов на осциллографах реального времени с применением активных пробников

Используйте современные широкополосные системы пробников и выполняйте прецизионные измерения с их помощью

В данной части семинара мы продолжим рассмотрение темы векторного анализа сигналов. Программа векторного анализа сигналов 89600 VSA поддерживает анализ более 75 типов сигналов, в том числе сигналы стандартов LTE-Advanced и 802.11ac. Для заказчиков в оборонной и аэрокосмической отраслях мы предлагаем решения для анализа импульсных сигналов и непрерывных сигналов РЛС с частотной модуляцией (FMCW) наряду с гибкими возможностями для проведения анализа нестандартных или специализированных сигналов с помощью стандартных инструментов.

В данном докладе мы рассмотрим следующие вопросы:

  • Важные характеристики пробников
  • Несимметричные пробники
  • Дифференциальные пробники с впаиваемыми головками и наконечниками с нулевым усилием сочленения (ZIF)
  • Головки-браузеры для дифференциальных пробников
  • Смещение в дифференциальных пробниках
  • Параметры входного импеданса пробников

Тема 3: Анализ целостности питания на печатных платах при отладке прототипа

Измеряйте показатели качества и целостности питания при отладке цепей постоянного напряжения с помощью осциллографов и специальных пробников

Ввиду сложившейся в последнее время тенденции к неуклонному снижению напряжения питания устройств, источники питания постоянного тока становятся предметом все более пристального внимания. По мере того, как пользователи пытаются уменьшить потребляемую устройствами мощность, увеличить эффективность и минимизировать уровень обусловленных влиянием источника питания шумов в сигнале, допуски на отклонение напряжения питания становятся все жестче. В этом докладе рассматриваются инструменты и методы для проведения измерений показателей качества питания, таких как пульсации, шумы, выбросы, провалы, реакция на статическую/динамическую нагрузку, шумы в сигнале, обусловленные влиянием источника питания, а также джиттер сигнала.
Кроме того, в докладе обсуждается влияние шума осциллографа, шума пробника, коэффициента ослабления пробника, диапазона смещения, диапазона входного напряжения, способов подключения, а также измерение перекрестных помех между питанием и сигналом.
В данном докладе мы также затронем следующие вопросы:

  • Повышение точности и надежности тестирования при отладке распределенных цепей питания/полигонов (PDN)
  • Упрощение выявления основных причин шума в распределенных цепях питания
  • Исключение ошибочных отрицательных (или положительных) результатов тестирования
  • Ознакомление со специализированными инструментами, позволяющими упростить работу при анализе целостности питания
     

Тема 4: Основы формирования сигналов произвольной формы

Получите основные сведения о генераторах сигналов произвольной формы и облегчите себе дальнейший выбор подходящего прибора для разработки цифровых оптических или электрических устройств

Тестирование электронных устройств или систем предполагает подачу входных воздействий на тестируемое устройство/систему и анализ характера изменения выходного сигнала. Иногда для испытаний используются реальные входные воздействия, но в большинстве случаев для обеспечения воспроизводимости результатов измерений для подачи тестовых сигналов применяют специализированные приборы, например, генераторы сигналов произвольной формы. По мере того, как устройства и интерфейсы становятся все более быстродействующими и более сложными, особую важность приобретает гибкость испытательного оборудования. Генераторы сигналов произвольной формы позволяют формировать самые разнообразные сигналы.
В данном докладе мы рассмотрим критерии, которые необходимо учитывать при выборе генератора сигналов произвольной формы для использования в процессе разработки цифровых оптических и электрических устройств, широкополосных радаров, средств спутниковой связи, а также в фундаментальных исследованиях. Мы расскажем о наиболее важных особенностях формирования цифровых многоуровневых сигналов и сигналов с амплитудно-импульсной модуляцией, например, PAM-4, сигналов беспроводной связи и сигналов со сложной модуляцией, сигналов с несколькими несущими, а также когерентных оптических сигналов.
 

Отправьте заявку на участие в одном из этих мероприятий, щелкнув по соответствующей ссылке в приведенной ниже таблице.

Вы также можете посетить только те темы, которые вам интересны. Для этого в заявке, пожалуйста, укажите, какие темы вы хотели бы посетить.

 

Вы также можете подписаться на получение уведомлений о будущих семинарах HOTSPOTS, посвященных тестированию высокоскоростных цифровых устройств. Для подписки нажмите, пожалуйста, кнопку «Оповестить» ниже. 

 

Дата Место Страна Язык докладов Заявка на участие
27 сентября 2017 Böblingen Германия Немецкий tmo_russia@keysight.com
27 сентября 2017 Кембридж Великобритания Английский tmo_russia@keysight.com
27 сентября 2017 Великий Новгород Россия Русский tmo_russia@keysight.com
04 октября 2017 Екатеринбург Россия Русский tmo_russia@keysight.com
05 октября 2017 Leuven Бельгия Английский tmo_russia@keysight.com